数字测试理论.docVIP

一. 開路和短路測試(Opens and Shorts Test 1目的:驗證所有的信號引腳是否都接觸良好以及信號引腳與信號引腳或者power/ground pin之間有無短路. 2原理:device的每個引腳上都有一對保護二極管,在測試過程中觀察保護二極體是否起到鉗制電位的作用,來判斷引腳的好壞. 3方法:串行/靜態法和功能測 1) 串行/靜態法(Open and Shorts Serial Static Method 所有device pins包括power和ground pins都接地. 用PMU連接單個引腳,灌入一定值電流(100uA-500uA,接VDD二極體導通),測電壓. 如果測得電壓在二極體導通電壓(0.2-1.5v)範圍內,則pass,該pin爲良. 如果測得電壓大於保護二極體導通電壓(1.5v),則fail,該pin斷路.. 如果測得電壓0.2v,則fail.該pin短路. 或者, 用PMU連接單個引腳,拉出一定值電流(接地二極體導通),測電壓. 情況與上面相似. 如果測得電壓在二極體導通電壓(-0.2--1.5v)範圍內,則pass,該pin爲良. 如果測得電壓大於保護二極體導通電壓(-1.5v),則fail,該pin斷路. 如果測得電壓-0.2v,則fail.該pin短路. 重復以上步驟,直到每個signal pin都被測好,一般我們使用拉出電流的方法(即接地二極體電流) 2) 功能測試法(Open and Shorts Functional Method) VDD和ground 接地 用Drive驅動每個信號引腳至0v.! 斷開一個pin的Drive,用動態負載灌入一定值電流,由comparator判斷pin輸出電壓,確定是否符合要求(Z態) 測完這個pin就恢復這個pin的驅動,然後重復以上步驟測試下一個pin. 3) 兩種方法的比較) F. Q, z 串行/靜態法:結果清晰,但耗時 功能測試法:速度快,但是結果不好分析 可以先用功能測試法測,如果出現錯誤,則用串行/靜態法測試分析具體情況 二. 驗證直流參數(Verifying DC Parameters) 1.IDD Gross Current Test 對象:VDD pin 目的:粗略檢測流入VDD pin的電源電流是否過大.(在wafer test中很有用),判斷是否有必要繼續測試. 方法:因爲不要求精確預置(而只是簡單預置,為了使DUT在一個穩定的狀態),所以IDD標準應該放寬,一般是2-3倍.; 所有input用驅動接地或電源,outputs不加負載.. 用PMU在VDD pin上加VDDmax(最壞情況),測電流,觀察結果是否符合限制值 錯誤分析:有除DUT之外的其他的系統耗電導致電流過大 電阻:在VDD和地之間的最小總電阻. 可以用一個等效電阻代替DUT來驗證測試系統的精確性 2.IDD Static Current Test 對象: VDD pin2 目的:檢測當DUT預置在最低電流消耗邏輯狀態下(靜態),消耗的電流是否過大.(是檢測CMOS器件中制程問題的有效方法) 方法:執行test vector pattern,將DUT精確預置在特定邏輯狀態下. 其他的同IDD Gross Current Test. 錯誤分析:有除DUT之外的其他的系統耗電導致電流過大 電阻:在VDD和地之間的最小總電阻. 可以用一個等效電阻代替DUT來驗證測試系統的精確 3.IDD Dynamic Current Test) 對象:VDD pin 目的:檢測當DUT啟動運行其功能時,消耗的電流是否過大* 方法:在最高工作頻率下,運行test vector pattern,將DUT預置在啟動邏輯狀態 在測試過程中pattern持續執行. 其他的同IDD Gross Current Test. 錯誤分析:有除DUT之外的其他的系統耗電導致電流過大 電阻:在VDD和地之間的最小總電阻. 可以用一個等效電阻代替DUT來驗證測試系統的精確性 4.VOL/IOL;VOH/IOH+ a: M N a. VOL/IOL(定流測壓) 對象utput pin 目的:測試output在邏輯0狀態的時候,輸出電阻是否過大. 方法(串列/靜態):VDD加VDDmin 預置outputs邏輯0.用PMU向output pin灌入一個固定IOL,測電壓,與標準做比較..重復步驟直到所有output pin都測完. 錯誤分析:1)VOL過大但是output邏輯狀態正確,