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红外焦平面阵列均匀性及其校正研究

摘要 红外焦平面阵列非均匀性及其校正研究 专业:通信兰信息系统 硕士生: 睦拦 导师: 沈佳教援 摘要 随着红外技术的进步.红外探测在日常生产、生活中得到越来越多的应用。 红外焦平面阵列技术具有结构简单、灵敏度高、频带宽、响应快等优点,已取 代以往的光机扫描技术,为目前红外热成像技术的第一选择。但由于器件材料 工艺等原因,红外焦平面阵列存在非均匀性,严重影响成像质量,使图像模糊 不清,为高级应用所不可接受。故有必要对非均匀性及其校正进行相应的研究。 本文从研究非均匀性入手,通过分析非均匀性的定义、组成,模拟含非均 匀性的图像,评估各种因素对非均匀性的影响。分析知非均匀性的主要限制性 因素为时变的空间固有模式噪声,故非均匀性校正应是时空域联合处理技术。 结合一般回归估计特点,归纳出非均匀校正原理,详细讨论了其中所涉及 的四种关系。校正模型、校正期望、校正函数和校正评估的内涵及由之而来的 分类-进一步以这四种关系来分析非均匀校正方法。考虑到现代热像仪的高精 度发展趋势,结合回归估计,提出在校正期望上做改进来提高校正精度。于是 以神经网络法的网络结构为基础,使用更新估计值与场景静止识别,获得良好 效果。因更新估计值会带来一些不稳定,故以定标数据为起始数据集,弥补该 缺陷,实现将定标法与场景法相结合的综合法。实验表明,综合法能去除漂移 等因素的干扰,具有较好的校正精度,可实时的完成收敛过程,对不同内容、 噪声的数据集有一定适用性。 实际中的红外焦平面阵列都经过定标处理,如何使其适应外界变化应为我 们的主要研究内容。定标法不能适应漂移变化,场景法校正精度不够,而综合 法在足够快的前提下,在稳、准指标上有所提高,其精度为校正前的近三到四 倍,具备一定实用性。 关键字:红外焦平面阵列,非均匀校正,非均匀评估,回归估计,综合法. 垒坐!坐!一一—— the ofInfraredFocaIPlane on Nonuniformity Array study its Correction Nonuinformity Major:£Q坐垡:量!壁鱼:苎!§l璺墼 №me: g照£坠壁i堕 superVisor:里!:垒£曼塾壁坠墼生i Abstract been 、viththe ofInfIared detectionhas rapiddeVelopnlent technology,Infrared Plane usedin atId InfraredFocal Array(【RPFA) widcly dailyproductionLiving.Thc has and technologywhichcompactstructufe,h培hresponsivelyhighprecision,has ta—kenme oft|le ast11efifstchoiceofInfraredthermal pIace scanningtechnology

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