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A g r e A t e r m e A s u r e o f c o n f i d e n c e 如何实现精确的低电压和低电阻测量 前言2 热电EMF和失调补偿方法 9 选用指南 18 低电压测量 2 非奥姆接触 12 名词解释 19 失调电压2 器件的发热 12 联系方式 22 噪声6 干电路测试 12 共模电流和扭转误差8 电感性器件的测试 13 低电阻测量9 低电压:基于霍尔效应的测量 14 引线电阻和四线法9 低电阻:超导电阻测量 17 introduction | Low VoLtAge meAsurements | Low resistA nce meAsurements | Low-V AppLicAtion: HALL effect meAsurements | Low- r AppLicAtion: superconductor resistA nce meAsurements | seLector guide | gLossA ry | contAct us 低电压测量 前言 热电EMF 低电压和低电阻测量常常是针对具有低的源 VOFFSET 热电电压(热电EMFs)是低电压测量中最常见的 阻抗的器件和材料进行的。本e手册讨论了低压测 HI 误差源。当电路的不同部分处于不同温度下时以及 特色资源 量中存在的若干潜在的误差源,如何尽可能降低其 当由不同材料构成的导体连接到一起是,就会产生 R 如何排查低压测量 对测量精度的影响,并探讨了低电阻测量的潜在误 S 这些电压,如图2所示。表1总结了各种不同材料相 问题 V 差源,包括引线电阻、热电EMF、非欧姆接触、器件 M 对于铜的seebeck系数(QAB )。 V 发热、干电路测试和电感器件测量。 S LO 在测量较高电压的时候通常被忽略的偏置 A T B T A 1 2

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