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2第二章 互连技术WB
第二章 芯片互连技术
*微组装工艺*
1 2 3 4 5
各种
载带 倒装
概述 引线 自动 焊技 芯片
键合 焊接 术 互连
技术 技术 FCB 方法
WB TAB 的比
较
2.1 概述
*微组装工艺*
半导体封装内部芯片和外部管脚以及芯片之间的连接
起着确立芯片和外部的电气连接、确保芯片和外界之间
的输入/ 输出畅通的重要作用,是整个后道封装过程中的
关键。半导体器件的失效约有1/4~1/3是由芯片互连引起
的,芯片互连技术对器件长期使用的可靠性影响很大。
芯片互连技术是将芯片直接与基板相连接的一种技术。
主要包括引线键合、载带自动焊接、倒装芯片技术。
*微组装工艺*
WB,TAB,FCB不单主要作为芯片—基板间的电气互连形
式,而且还作为一种微电子封装形式,常称为 “零级”
封装。
从微电子封装今后的发展来看,将从有封装向少封装、
无封装方向发展。而无封装就是通常的裸芯片,若将这
种无封装的裸芯片用WB,TAB,FCB的芯片互连方式直接安
装到基板上,即称为板上芯片 (COB )和板上TAB或板上
FCB,这些统称为直接芯片安装 (DCA )技术,它将在今
后的微电子封装中发挥更重要的作用。
2.2 引线键合技术
*微组装工艺*
2.2.1 引线键合技术
2.2.2 引线键合工艺
2.2.3 主要键合参数
2.2.4 影响引线键合可靠性的因素
2.2.5引线键合的主要材料
2.2.6 引线键合工具和设备
2.2.1 引线键合技术
*微组装工艺*
一、引线键合技术
引线键合技术是将半导体裸芯片 (Die )焊区与微
电子封装的I/O引线或基板上的金属布线焊区 (Pad )
用金属细丝连接起来的工艺技术。
工作原理:提供能量破坏被焊表面的氧化层和污染
物,使焊区金属产生塑性变形,使得引线与被焊面紧
密接触,达到原子间引力范围并导致界面间原子扩散
而形成焊合点。
焊区金属一般为AL或Au金属丝。多数是1微米至
数百微米直径的Au丝、AL丝和Si-AL丝。
*微组装工艺*
引线
芯片
布线板 布线端子
*微组装工艺*
引线键合技术的特点:
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