光电成像系统..ppt

被测物面的入射光束与光敏面平行, 并垂直于成像透镜光轴, 被测点的位移与光电探测器上光斑的位移为线性关系, 可用于测量相对或绝对位移。但其光敏面要求很大, 而且被测点在成像面的像并不清晰, 因此测量精确度不高。 准确调焦位置只有一个, 其余位置的像都处于不同程度的离焦状态, 从而也降低了系统的测量精度。 4. 距离测量与激光三角法 对于高精度要求的场合, 一般将光电探测器的光敏面与成像透镜成?角。光电探测器平面与成像透镜光轴的夹角和激光束与成像透镜光轴的夹角满足斯凯普夫拉格条件( 成像面、物面和透镜主面必须相交于同一直线)时, 4. 距离测量与激光三角法 直射式激光三角法由于其接收散射光的特点, 适合于测量散射性能好的表面, 否则可能由于光线大多被反射而存在测量盲区。 与直射式相比, 斜射式可接收来自被测物体的正反射光, 比较适合测量表面接近镜面的物体,而直射式由于其接收散射光的特点, 适合于测量散射性能好的表面, 否则可能由于光线大多被反射而存在测量盲区; 斜射式入射光光点是照射在物体的不同点上, 无法直接得到被测物体某点的位移情况, 而直射式可以; 斜射式分辨率高于直射式, 但测量范围较小、体积较大、光斑较大, 而直射式光斑小, 光强集中, 体积小。因此, 可针对直射式与斜射式各自的优缺点, 应用在不同的场合。 4. 距离测量与激光三角法 5.