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§7.3 X射线多晶衍射法 实验条件: 单色的X射线、多晶样品或粉末样品 7.3.2粉末衍射图的获得 2、衍射仪法 7.3.3粉末衍射的应用 1、物相分析 2、衍射图的指标化 3、晶粒大小的测定 §7.4 电子衍射法简介 7.4.1 电子衍射法与X射线衍射法比较 电子衍射法 X射线衍射法 穿透能力 小于10-4 mm 可达 1 mm以上 散射对象 主要是原子核 主要是电子 研究对象 适宜气体、薄膜 适宜晶体结构 和固体表面结构 适合元素 各种元素 不适合元素H 7.4.2 电子衍射法测定气体分子的几何结构 7.4.3 低能电子衍射法在表面分析中的应用 LEED（Low Energy Electron Diffraction） §7.5 X射线荧光光谱分析 7.5.1 X射线荧光分析方法及应用 2、定量分析 2 定量分析方法 3、应用 7.5.2 X射线荧光光谱仪 （1）X射线发生器 （2）分光系统 （3）检测器 （4）记录系统 2、能量色散型X射线荧光光谱仪 * 7.3.1特点和原理 ? 角要满足布拉格方程 2dh*k*l*sin ? nh*nk*nl* n ? n 1,2,3? 常用方法有二种：照相法和衍射仪法 1、照相法 相机为金属圆筒,直径 内径 为 57.3mm,紧贴内壁放置胶片,在圆筒中心轴有样品夹,可绕中心轴旋转,样品位置和中心轴一致。 4R? 2L 即? 弧度 ＝ 度 2R 57.3nm? ? L a, b, c, ?, ?, ? I 2? ? ? ? h,k,l 单色X光照射在压成平板的粉末样品Y上，它和计数器由马达，按?和2?角大小的比例由低角度到高角度同步地转动，以保证可能的衍射线进入计数器. [I 2 ? ? ? ] 由粉末衍射图得：I 2? ? ? ? 各种晶体的谱线有自已特定的位置，数目和强度。 其中更有若干条较强的特征衍射线，可供物相分析。 JCPDS Joint Committee on Powder Diffrac-tion Standards 也称 PDF卡Powder Diffration File dA、dB、dC、dD、dE、dF、dG、dH dB、dC、dA、dD、dE、dF、dG、dH dC、dA、dB、dD、dE、dF、dG、dH 利用粉末样品衍射图确定相应晶面的晶面指面h k l的值 又称米勒指数 就称为指标化。 得到系统消光的信息，从而推得点阵型式，并估计可能的空间群。 立方晶系a b c ao ,? ? ? 90? ?hkl B ― b 晶粒大小与衍射峰宽之间满足谢乐 Scherrer 公式: 垂直于晶面 hkl方向的 平均厚度 衍射峰的 半高宽 晶体形状有关的 常数，常取0.89 ?hkl必须进行双线校正和仪器因子校正 实测样品衍射峰半高宽 仪器致宽度 电子、质子和中子等微观粒子都有波性，它们的射线也会产生衍射现象，亦作测定微观结构的工具。 电子射线波长与速度v有关，根据德布罗意关系式 ? h/p h/ h/ h/ 10000V电场 ? 电子射线的波长12.3pm 由于中子穿透能力大，所以用中子衍射法确定晶体中H原子位置就更有效。 分子内原子之间的距离和相对取向是固定的，原子之间散射次生波的干涉同样会产生衍射。 原子散射因子Aj近似等于原子序数Zj I? + （sinRjkS）/RjkS S （4?/?）sin（?/2） 维尔电子衍射强度公式是： 例如: 用40000V的电子射线得到CS2蒸气的衍射图，其中强度最大的衍射角分别是2.63o、4.86o、7.08o。已知CS2是对称的直线分子，求C-S键长。 由 实 验 得 S1 0.04713pm-1; S2 0.08698pm-1; S3 0.1265pm-1 由衍射强度公式计算: [ ] I? Z+2Z+[4ZCZSsin（RS）/RS]+2Zsin（R’ S）/ R’ S 即 I? 62+2?162+[4?6?16sin（RS）/RS]+[2?162sin（2RS）/2RS] I’? （I? –62– 2?162）/16?8 [2sin（2RS）+3sin（RS）]/RS I’?对RS作图 I’? I? 最大处的 RS i 7.1; 13.5; 19.7 计算得: Ri RS i /Si 153pm; 155pm; 157pm 平均 R 155±1pm 能量为10~1000eV的低能电子射线波长为400~40pm，相当于或小于晶体中原子间距，晶体可以对它产生衍射。但由于电子穿透能力较差，所以这个能量范围内产生的衍射只是来自晶体内500~ 1000 pm的深度的电子散射（相当于表面几层原子）。 表 面