γ射线的能量和强度测量.docVIP

γ射线的能量和强度测量 ⑴了解 闪烁谱仪的组成，基本特性及使用方法。 ⑵掌握测量 射线的能量和强度的基本方法。 二、基本原理： 1． 闪烁谱仪的组成 闪烁谱仪由探头，高压电源，线性放大器，微机多道分析器组成，如图（1）所示： ? ? 探头由 闪烁体、光电信增管、射极输出器组成。 当 射线进入 闪烁体后，会与物质发生多种相互作用。当 射线的能量不太高时 ，作用过程主要有光电效应，康普顿散射效应和电子对效应三种，作用的结果，产生了具有一定动能的次级电子，而 射线被吸收或散射，这些次级电子获得的动能 与 射 光子的能量 的关系如表1所示 表1 射线在 闪烁体中相互作用的基本过程 基 本 过 程 次级电子获得能量 （1）光电效应 +原子 原子激发或 离子 激发+电子 （ 为该层电子结合能） （2）康普顿散射 +电子 （散射）+反冲电子 按 ， 为散射角，从0至最大能量 连续分布，峰值在最大能量处。 （3）电子对产生 +原子 原子+ 电子对均分能量 次级电子在闪烁体中运动时，使闪烁体的原子激发而发射出荧光光子，光电倍增管的光阴极收集这些荧光光子后发射出光电子，光电子再经过倍增后由阳极收集，在阳极负载电阻上形成一个电压脉冲信号。这一信号经过射极输出器放大后再输出至线性放大器，因此，探头输出信号的电压脉冲幅度，与次级电子在闪烁体中损失的能量成正比，次级电子的能量来自于入射的 光子，所以信号脉冲的幅度也与入射的 光子的能量有关，由表1可知，由于三种不同的相互作用，对相同能量 的入射 射线，也可以产生不同能量的次级电子。因此对于单能的 射线，所得到的信号脉冲幅度也有一个很宽的分布。 当入射 射线的能量 时，光电效应占优势，随着 射线的能量增加，发生康普顿效应的几率也增加，当 ＞ ，才有可能出现电子对效应，并且随着 的增加，发生电子对效应的几率也显著上升。 光电效应主要发生在原子的K壳层上， 光子击出K壳层的电子的同时，外层电子立即跃迁到K壳层上的空穴并发射出X射线，在晶体中X射线再次被吸收而产生一个新的次级电子，上述两个过程几乎是同时进行的。因此相应的输出信号是迭加在一起的。即光电效应产生的脉冲幅度直接代表了 射线的能量，在 能谱上由光电效应产生的峰称作光电峰。通常也称为全能峰，康普顿效应中多次散射的累计效应和电子对效应中两个湮没光子被全吸收时，对全能峰也有贡献，但这一过程的比例很小，所以全能峰中的计数主要由光电效应所产生。 图2给出了用 闪烁谱仪所测得的 源的 能谱。 图中1号峰为全能峰，对应的 射线的能量为0.662Mev，1号峰左面的平台相应于康普顿散射产生的次级电子的贡献，根据康普顿散射的特性，次级电子的动能的值可以在0到最大值0. 478Mev之间连续分布。峰值在最大能量处，所以从0到E=0. 478Mev之间出现一个连续分布的平台，称为康普顿平台。2号峰为反散射峰，它是由能量 =0.662Mev的 光子穿透 晶体后打到光电倍增管上，发生散射角为180°的散射后返回到晶体中的 光子产生的，可以求得反散射的光子能量值 在源的衬底及周围物质上产生的反散射，对2号峰也有贡献。图中最左边的峰是 的子体 的K X射线峰，相应的 。 ⒉闪烁谱仪的主要性能指标。 （1）能量的线性关系 能量线性是指测得的 能谱上全能峰的道址X与相应的 射线能量 之间的线性关系。可以用下式表示： （1） 式中G， 为一常数，其值与探测器的性质及谱仪的工作条件有关，对于 闪烁谱仪在 到 的范围内， 与X有线性关系。测量能量的线性关系，即用实验方法确定（1）式中的参数G与 的值叫做能量刻度。具体是：测量标准源的能谱（例如 源 ， ），找出两个全能峰的道址 ， ，代入（1）式，即可求得G和 的值。若谱仪的工作状态发生改变（如高压值，放大倍数发生改变），G与 的值也将改变，此时必须重新进行能量刻度。 （2）能量分辨率 能量分辨率是表示闪烁 谱仪区分不同 射线能量的本领的物理量，NaI(Tl)闪烁谱仪的能量分辩率一般用所测得的 标准源的 能谱上的全能峰的半宽度来表示，如图2所示。设全能峰的道址为 ，对应于峰计数率一半的两个道址为 和 。则谱仪的能量分辩率 可以用下式表示： （2） 的值越小，表示 谱仪分辩率不同能量的 射线的本领越强。影响谱仪分辩率的因素很多，主要有NaI(Tl)晶体的发光效率的非均匀性及统计性涨落，光电倍增管的倍增系数的不稳定性，电子仪器的非线性等，此外，还与放射源的位置和性质有关，一般情况下， 的值为10%左右，最佳的数据为6%—8%，对于能量相差太小的 射线，由于受分辩率的限制，NaI(Tl)闪烁谱仪无法区分，这时必须采用分辨本