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X 射线应力测定技术预备知识 一、X 射线的本质与产生 1、X 射线的本质 1895 年德国物理学家伦琴发现了 X 射线。1912 年德国物理学家劳埃等人成功地观察到 X 射线在晶 体中的衍射现象，从而证实了 X 射线在本质上是一 种电磁波。依据电磁波的波长，从 3×10－4m 以上到 10－13m 以下，可以把它们分别称为无线电波、红外 线、可见光、紫外线、X 射线、γ射线和宇宙射线 等（如图 1 所示）。X 射线的波长范围在 10－12m ～ 10 － 8m 之间。用于衍射分析的 X 射线波长通常在 0.05nm～0.25nm 范围，用于金属材料透视的 X 射线 波长为 0.1nm ～0.005 nm，甚至更短。 实验证明，波长越长的电磁波，其波动性越明 显，波长越短的电磁波，其粒子性越明显。X 射线 和可见光、紫外线同其它基本粒子一样都同时具有 波动性和粒子性二重特性。正因为它们的具有波动 性，光的干涉衍射现象才得以圆满解释；也正因为 它们的粒子性，探测器才可以接收到一个个不连续的 图 1、电磁波谱 光量子。反映波动性的波长λ、频率υ与反映粒子性 各个区域的上下限难以明确指定，本图中各种电 磁波的边界是臆定的 的光子能量ε之间存在以下关系： ε＝hυ＝hc/λ 式中 h 为普朗克常数，h＝6.626×10－34J·s ；c 为光速，也是 X 射线的传播速度，c＝2.29