火焰发射和原子吸收光谱分析法资料.docVIP

火焰发射和原子吸收光谱分析法 干扰和消干扰 1.火焰光谱法中的干扰 可分为光谱干扰和非光谱干扰两类 光谱干扰： 在仪器检出分析质辐射的发射或吸收的同时，也检出了未被分离的其它物质的相应信号，则产生光谱干扰，对比不含分析质的空白溶液和溶剂空白液的信号，可确定是否存在光谱干扰。从分析线的一侧向另一侧作波长扫描连续测量被研究的试液，也能确认光谱干扰，光谱干扰的程度，主要取决于使用的通带宽度。 用火焰发射法测量时，共存质发射的各种辐射（包括连续光谱，分子带，原子线及离子线），杂散光，光栅鬼线，只要被检出器检出，均引起光谱干扰。火焰背景发射虽在空白溶剂调零位时可以清除掉，但共存杂质也会对火焰背景发射产生影响，它难以从共存杂质光谱干扰中区分出来。 用原子吸收光谱测量时，光谱干扰既来自火焰，又来自空心阴极灯。比起发射法，火焰中共存杂质的基态原子产生吸收光谱干扰的机会要少得多，但分子吸收光谱干扰仍然存在；共存质未挥发微粒的光散射，造成表观吸光的光谱干扰在短波区尤其显著；此外，共存质有时对火焰背景吸收也产生影响。劣质的原子光谱灯，可能发射波长临近分析线的辐射。它可能和试样共存质吸收线一致，也可能是别的非吸收线，如果分光系统不能分辨开，分别会产生直接光谱干扰及使定标曲线严重弯向浓度轴。 非光谱干扰的种类如下： 输送干扰：由共存质改变传（送分析）质引起。涉及改变吸喷速率F1，雾化效率εn及脱溶剂分数βs,从而改变单位内穿过火焰观察高度横断面的试样量，这属于非专一（物理）干扰。 溶质挥发干扰：由共存质改变干燥气溶胶中微粒的气化速率引起，可加速或减缓这一速率。共存质使分析质挥发不完全，无共存质时分析质挥发不完全，或共存质存在与否分析质挥发均不完全，都会产生这种干扰。有时是专一性干扰，有时为非专一性干扰，常难区分。 气相干扰：发生在分析质化合物解离分散，电离分数或激发分数遭到改变之时。分别称解离干扰，电离干扰和激发干扰。共存质一旦改变火焰温度，就会产生激发干扰。即使用孪雾化器分别吸喷分析质和干扰质的溶液，气相干扰仍然存在。这类干扰由专一性。 空间分布干扰：发生在共存质改变分析质的质量流动速率或质量流动模型之时，有时影响燃烧生成气体的体积及其上升速度。在极端场合，可明显见到火焰的形状，大小有改变，称发生火焰几何学干扰，无专一性。有时会改变扩散过程，如共存质推迟了雾滴或固体微粒的气化，缩短了到观察区前可用于横向扩散的时间，产生横向扩散的时间，产生横向扩散干扰，有专一性。 2.消除干扰技术和光谱化学缓冲剂 基线扫描法：校正发射背景光谱干扰。从分析线一侧扫描向其另侧，在记录器上获得完整的信息谱，把两侧背景内推到分析线峰位，得应扣除分析线峰位处的背景值。 参考元素法：按IUPAC建议，不再称内标法，用以极缩非专一性干扰。借助于参考元素与分析质两者测量值之比，补偿测量条件波动引起的偶然误差。 分析质增量法：用以极缩光谱以外的干扰，主要是非专一性干扰。在增量法的定标系列中与共存质完全匹配。 模拟技术：要求配制组成与分析试液匹配的定标用标准系列，以补偿干扰。 光谱缓冲剂加入法：用以钝化干扰效应。光谱化学缓冲剂有以下几种。 抑制剂：减弱干扰质的发射、吸收或光散射效应，从而消除或减弱光谱干扰。 稀释剂：优先于干扰质生成稳定化合物，防止分析质生成热稳定的化合物，减小解离干扰。 保护剂：与分析质或干扰质化合，利于分析质原子化，减小发生于凝相中的非光谱干扰。 电离缓冲剂：增加火焰气体中自由电子的浓度，抑制或稳定分析质原子的电离度。 挥发剂：使分析质生成更易挥发的化合物，或增加所有分析质微粒的总表面积。如生成爆炸崩解性含分析质的化合物。 饱和剂：本身是干扰剂。浓度足够高的饱和剂引入测量液时，使干扰曲线达饱和平台区，从而钝化共存质干扰。 无干扰区技术：利用三位表的无干扰区的条件进行无干扰的直接测量，适用于产品分析，操作简单且无需任一光谱缓冲剂。后一优点可免除缓冲剂空白对测量的危害。 5.2 火焰发射光谱增量法测定锂 5.2.1 原理 增量法的原理及注意事项已在上节叙述，欲测盐或卤水中的锂首先要考虑光谱干扰，然后才是解离干扰和电离干扰的对策。用波长扫描法发现光谱干扰时，要选用足够窄的光谱通带，以获高特性因素的测量。特性因素Fs 由下式计算： Fs=Ea Ci/Ei Ca 这里E为发射值 ，C 为测量试液的浓度；角标i为有光谱干扰的某一元素，a为分析质元素。特性元素越大光谱干扰越小。 因SrOH发射带头恰重叠在锂670.8nm分析线上，故测量液中锶量应受严格限制，高灵敏的原子化条件+使用前提是必须确保高特性因素。 增量法的使用，大大减弱多数非光谱干扰。 仪器和试剂 1.仪器及测量条件 见表5.4 仪器 带YM-2单色仪的火焰发射光谱仪 检出器 ΦЭY-22光