(物理光学)第十五章_光的偏振和晶体光学基础5解读.pptVIP

* * 一、偏振光的变换(Polarized light’s transform) §15－7 偏振光的变换和测定 1、椭圆偏振光和园偏振光的获得 方法：采用起偏器和?/4波片从自然光中获得 自然光 线偏光 Quarter-wave plate 1/4波片 x(快轴) y 起偏器 Polarizer x y 透光轴 ??0o、 ?? 90o 椭圆偏振光 ??45o 圆偏振光 ?=45o 2、偏振光的检验 方法：利用位相延迟器和偏振器 检偏器 线偏振光 自然光 圆偏振光 部分园偏光 椭圆偏振光 部分线偏光 部分椭圆偏光 光强变化， 但不消光。 光强变化，且有消光位置 无光强变化 OK 椭圆偏振光 部分线偏光 部分椭圆偏光 检偏器 1/4波片 自然光 圆偏振光 部分园偏光 无强度变化 有强度变化和消光位置 有强度变化无消光位置 检偏器 1/4波片 OK 波片快轴与光强最大的方向重合 有强度变化和消光位置 无消光位置、光强无变化 无消光位置、光强有变化 二、偏振光的测定 1、线偏振光的测定 含义：确定是否是线偏振光； 测定线偏振光的振动方向。 出发点：马吕斯定律 半影式检偏器：用以提高检偏器方位的定位精度。 半影式检偏器工作原理 P H A 结构： x y O A ? P1 ?’ P2 ?’ H1 H2 原理 2、椭圆偏振光的测定 含义：用实验方法测定表示偏振状态的参量（指定坐标系中的方位角?、椭圆度tg?和旋向；或直角坐标系下两偏振光振幅比和位相差?。） y x x’ y’ C2 O A1 A2 ? ? 方法：采用1/4波片和检偏器(Analyser)的方法。 步骤：1）首先用检偏器测定椭圆长轴的方位角?和椭圆度tg? 2）用1/4波片和检偏器测定椭圆偏光的旋向。 1）设x’oy’坐标系中椭圆的琼斯矩阵为 x x’ y’ C2 O A1 A2 ? ? 检偏器透光轴与x’轴夹角是?，其琼斯矩阵为： 出射光的强度(Intensity)为： 由此可找出光强最大的位置，从而确定长轴与预定的x轴之间的夹角和椭圆度tg? =A2/A1。 2）将1/4波片快轴与已找到的椭圆长轴方向一致 x x’ y’ C2 O A1 A2 ? ? 若入射椭圆偏光为左旋时： 出射光在二、四象限。 若入射椭圆偏光为右旋时： 出射光在一、三象限(Quadrant)。 这样即可判断椭圆偏光的旋向。 一、平行偏振光(Parallel polarized light)的干涉 1、干涉装置： §15－8 偏振光的干涉 自然光 natural light 起偏器polarizer 检偏器analyser P A ? x y 晶片wafer ? y x P （起偏器） ? E Ey Ex A（检偏器） ? 2、原理和公式： 沿晶片快、慢轴方向建立坐标系。 设入射线偏光振幅为a。 1）正交(Orthogonal)偏振器系统： 起偏器P和检偏器A的透光轴相互垂直，即：?=?+?/2 分析 3、讨论 2、平行(Parallel)偏振器系统： 起偏器P和检偏器A的透光轴相互平行，即：?=? 分析 3、白光(Achromatic light)干涉(Interference)： 当光源采用包含各种成份的白光时，光强应是各种单色光干涉强度的非相干叠加。 分析 4、光测弹性方法及玻璃内应力的测定： 光弹效应（应力双折射）：由应变引起的双折射现象。 光测弹性方法：利用偏振光干涉方法分析受力情况。 举例：测试玻璃内应力 读数偏光仪的组成 待测样品 起偏器 1/4波片 检偏器 分度盘 滤色片 Dividing dial colour filter 读数偏光仪工作原理： 选择X、Y轴分别沿1/4波片的快慢轴，并让玻璃的快慢轴和起偏器的透光轴成45度。 45o 起偏器 检偏器 待测玻璃 ?（可变） 1/4波片 透过起偏器的线偏光琼斯矩阵为： 1/4波片的琼斯矩阵为： 设玻璃产生的位相差为?，则其琼斯矩阵为： 线偏光通过玻璃和1/4波片后的偏振态为： 结论： 1）从1/4波片出射的是线偏光。出射线偏光的光矢量与x轴的夹角?=?/2。 2）旋转检偏器可测得?，故可求?，即求得了待测玻璃的双折射率之差，从而分析了玻璃内部的应力情况 。 *