第八章光电系统设计要点.pptxVIP

第8章 非光物理量的光电检测 2 问题 什么是非光物理量，如何用光去测量非光物理量？ 答：不与光学量相关的物理量，比如长度、厚度、变形、速度、角度、质量等。 让非光物理量影响（调制）光学量，通过测量光学量的变化推算非光物理量的变化。 可以用哪些光学量的变化来表示？ 3 本章的主要内容 8.1 光强型光电检测系统 8.2 脉冲型光电检测系统 8.3 相位型和频率型光电检测系统 8.4 利用物理光学原理的光电检测系统 8.5 其它光电检测系统 4 8.1 光强型光电检测系统 8.1.1 直接测量法 8.1.2 差动测量法 8.1.3 补偿测量法 8.1.4 补偿式轴径检测装置 8.1.5 利用比较法检测透明薄膜的厚度 8.1.6 利用α射线测量块规厚度的装置 8.1.7 圆形物体偏心度的光电检测 8.1.8 利用补偿法测量线材直径 8.1.9 对圆柱形零件的外观检查 本节主要包括以下几部分内容： 测量方法 测量实例 5 8.1.1 直接测量法 1. 直接测量法原理 将携带被检测物理量信息的光量，投射到光电探测器上转换为电信号，经放大后由检测机构直接读出待测量。 Rｗ为校正电阻，用以校正回路的灵敏度。 μA表为读出机构。 图8-1 直接测量电路 6 8.1.1 直接测量法 1. 直接测量法原理 当探测器处于线性工作区中，则有 图8-1 直接测量电路 式中，Φ为信号光通量；I为探测器产生的光电流；S为探测器的积分灵敏度；Ci为比例常数；a0为表针指零时的角度； a为输出电流I所对应指针的转角。 7 在检测回路中，重要特性是仪表指针的灵敏度Sy，可表示为： 灵敏度的概念： 如何提高灵敏度？ 8 在上述检测回路中引入简单的晶体管或其它放大器。 图8-2 利用放大器提高灵敏度 仪表指针的灵敏度为 （8-2） 调整满度时对应的转角为a0，则有 式中，K为晶体管回路的放大倍数。 提高了K倍！使用放大器的原因！ （ ） 9 2. 系统相对误差和性能评定 设某检测关系为A=B·C/D，则增量间关系为 最大相对误差ε为 用上式分析直接测量法系统的最大相对误差为 10 2. 系统相对误差和性能评定 ΔK／K为放大系统放大率不稳定所引起的相对误差，它与放大电路中的电压波动，环境温度的变化，晶体管工作点的选择等参量变化有关； ΔS/S为光电器件灵敏度的相对误差，它与探测器特性的不稳定性有关； Δα/α为测量机械指示值的相对误差，它与机械结构不稳定性有关。 所以，直接测量方法虽然简单方便、价格低廉，但各环节误差直接加入总误差，受环境影响大！ 有没有受环境影响小的解决方案？ 11 8.1.2 差动测量法 该方法采用被测量与标准量相比较，利用它们之间的差或比，经放大后的测量数据去控制检测机构。 图8-3 利用电差动原理进行光通量检测 1. 测量原理 无光照时，调节电桥平衡 有光照时，电桥失衡，发生偏转 12 8.1.2 差动测量法 优点：差动方式，提高了测量灵敏度，减少了电压波动的影响和放大器零点漂移。 缺点：未能克服光源及光路上产生的波动或干扰 1. 测量原理 输入为零，输出偏移零,随时间缓慢变化 有没有解决办法？ 13 2. 光电差动装置 为进一步提高检测精度，消除不稳定因素对检测结果的影响，设计了由双光路和电桥组成的光电差动装置。 图8-4 双光路光电差动系统 14 当两电路光通量相差较小时，光电探测器GD1和GD2的灵敏度分别为S1和S2，在线性段中它们近似为常数。于是GD1产生的光电流I1=S1Φ1，R1上产生的压降I1R1= S1Φ1R1 (GD1与R1相当于串联)；GD2产生的光电流I2=S2Φ2，Rw上产生的压降I2Rw=S2Φ2Rw，所以电桥输出的电压U0为 如果S1=S2=S，Rw=R1则有 15 设两探测器接收到光通量 ，且 = n。因电源电压波动等原因使光源输出光通量发生变化，在两光路上的光通量也将发生变化，其变化值为ΔΦ1和ΔΦ2，两者间关系为 变化量与光通量成正比变化。即两光束光通量分别为 和 光通量波动的影响分析： 16 接收的光通量差为 原信号 因波动引起的误差 在有些电路中，采用两光通量比(除)的信号处理方法，光源波动的影响可以完全消除。设 ， 则： (8-9) 为完全消除光通量波动的影响，应调整两通道通量相同（两通道对称）！使n=1. 17