微波测量实验实验三教程解析.docx

实验三 复反射系数（复阻抗）测量 121180166 赵琛 实验目的 了解测量线的基本结构和调谐方法，掌握微波晶体检波律的校准方法 了解驻波测量与阻抗测量的意义与相互关系，熟练掌握用测量线测量反射系数，即复阻抗的基本方法。 熟悉Smith阻抗圆图的应用 了解 阻抗调配器作用及阻抗调配方法 实验原理 参看序言1.3有关部分，1.5.2谐振式波长计，讲义第四部分YM1124单频点信号发生器，YM3892/YM3892A选频放大器使用说明。 测试框图： 实验要求与步骤 1 在测量线后接短路片。按仪器使用说明正确调试微波信号源，放大器等。在调试中，一般测量线的探针调节旋钮无需调动，将信号调至最大，并用波长计测出信号源工作频率f，由此计算导波长λg。 2 在测量线后接短路片，用交叉读数法测出各最小点位置Dmin，求导波长λg，并与上面计算得到λg做比较。 3 在测量线后接匹配负载，用直接法测出其驻波系数。 4 在测量线后接膜片+匹配负载，用直接法、二倍最小法、功率衰减法测量其驻波系数，并测出最小点位置，计算该负载的输入阻抗及输入导纳。功率衰减器的刻度通过查表得到衰减量。 5 取下负载，测量线开口，测一下此时驻波系数ρ及Dmin，计算终端开口时的等效阻抗值。 6 在测量线后接短路片，测量晶体检波律。 实验数据与实验分析 1 用频率计算λg。 波长计示数为8.45，波长计型号为9507，查表可得，此时 f=9.3735GHz a=2.286cm， λ=cf λc=2a λg=λ1-λλc2 带入公式可求得，λg=44.7mm 2 短路法测导波长λg 最小读数法读数：（单位：mm） D11=134.0 D21=134.6 D1min=134.30 D21=111.7 D22=112.0 D2min=111.85 λg=2D=2D1min—D2min=44.9 与计算得到λg对比：由数据可见，最小读数法测得的λg稍大于计算频率得到的λg，这个是符合预期的，因为这是由于测量线上开槽线的影响，使得在测量线中测得的导波长比不开槽的相同截面举行波导中的导波长要稍微长一点。因此，测量线测得的波长稍高于波长计测得的波长。 3 用直接法测阻抗匹配时的驻波系数： ρ1=1000920=1.043 ρ2=985920=1.035 ρ3=865800=1.040 ρ=ρ1+ρ2+ρ33=1.039 分析：可以看出，由于此时阻抗匹配，ρ近似等于1。但是，由于ρ很小，驻波场最大值和最小值区别不大，且变化不尖锐，导致不易测准。此外，直接法的测量还受到了检波晶体的噪声电平以及平方率检波准确性的影响。此时我们测量时默认晶体检波律是2，但这个数据并不一定准确，在后面分析我们可以看出，这个数据其实很不准确，直接影响了测量准确度。 4，用直接法、二倍最小法、功率衰减法测量不匹配阻抗的驻波系数以及输入阻抗、输入导纳、衰减量 驻波系数： 直接法：ρ=90055=4.04 2倍最小法： D1=129.8 D2=132.8 W=D2-D1=3 ρ=1+1sinπWλg2=4.88 功率衰减法： 衰减器型号：02 示数amin=200 衰减器刻度：6.12 衰减：Amin=7.5dB 衰减器刻度：9.26 衰减：Amax=24.8dB ΔA=Amax—Amin=17.3dB ρ=1017.320=7.3 计算输入阻抗与输入导纳: 对于驻波系数ρ，根据后面对晶体检波律的分析，我们可以得出，由于对平方律的修正，取直接法和二倍最小法的修正后的平均，ρ应该为6.2。以下使用这个数据进行计算。 对于膜片+匹配负载， Dmin1=132.3 Dmin2=130.2 Dmin=131.3（mm） 对于短路片，前面已经求得，DT=134.3 dmin=Dmin-DT=-3(mm) 在精度要求不太高的时候，我们可以利用史密斯圆图求得阻抗。 史密斯圆图见下。DT在Dmin左边，查图时按照顺时针旋转（朝向电源），先找到等ρ圆，圆心为=圆图中心，找到最小点Zmin=1/ρ，顺时针转过dminλg=0.067rad=3.84°。以圆点为矢径，与等ρ圆的交点即可得输入阻抗。 求得归一化阻抗Zin=0.026+j0.45。 归一化导纳Yin=0.13-j2.22 计算终端开口时的驻波系数及等效阻抗 终端开口时： 测量晶体检波律 D1D2D3D4D5D6D7D8D9D10101.2103.0104.2105.1106.0106.8107.5108.3109.0110.0 Dmin=111.6 d1d2d3d4d5d6d7d8d9d1010.48.67.46.55.64.