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- 2016-11-23 发布于湖北
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低电流(1nA)与高电阻(1GΩ)的测试技巧 ;研讨会议程;何谓高电阻?;超高电阻测量需要皮安表(pA) 或静电计(eM) /高阻计;浮地 / 接地的电阻测量;测量数据问题;噪声问题 - 1;噪声问题 - 2;低电流 / 高电阻测量, 很典型的都用静电计 / 高阻计;低电流测量必须使用三轴线;外部电缆和夹具问题- 1;外部电缆和夹具问题- 2;在这研讨会所引用的静电计;研讨会议程;测量误差的来源以及修正方法;电容耦合噪声的主要来源;电容耦合 - 2;屏蔽测量;电容耦合 - 4;测量误差的来源以及修正方法; 绝缘体的影响 - 1;绝缘体的影响 - 2;绝缘体的影响 - 3;绝缘体的影响 - 4;绝缘体的影响 - 5;绝缘体的影响 - 6;测量误差的来源以及修正方法;使用保护层技术的好处
(B2985A/87A 例子): ;无保护层;泄漏电流 - 3;测量误差的来源以及修正方法;来自线缆的机电系统噪声 - 1;Keysight Triaxial三轴线览
(16494A);测量误差的来源??及修正方法;来自外部环境的噪声 - 1;来自外部环境的噪声 - 2;平台搭建的消除误差总结;研讨会议程;调整仪器设置,优化测量结果;仪器预热 自校准 self-calibration;调整仪器设置,优化测量结果;延迟时间 Wait (Delay) Time 的设置 - 1;延迟时间 Wait (Delay) Time 的设置 - 2;延迟时间 Wait (Delay) Time 的设置 - 3;调整仪器设置,优化测量结果;;积分时间 Aperture (Integration) Time 的设置 - 2;积分时间 Aperture (Integration) Time 的设置 - 3;积分时间 Aperture (Integration) Time 的设置 - 4;50;底噪清零 Offset Cancelation;调整仪器设置,优化测量结果总结;研讨会议程;总结;Keysight 皮安表 静电计;绝缘材料的电阻率测试系统;需要更多的应用环境?;B2900A Series of Source Measure Units (SMUs)
源表系列用来快速测试IV值;问题 答问部分;
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