ICT33C+使用说明书(L).docVIP

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ICT33C+使用说明书(L).doc

操 作 指 南 目录 一、操作指南 1.开箱验机 2.操作部件介绍 3.测试电压选择 4.基本操作 5.编程操作 6.缓冲区编辑 7.微机通讯操作 8.其它操作 9.查看软件版本编号 10.操作注意事项 11.运放测试使用说明 12.锁紧插座板功能介绍 二、产品介绍 1.工作原理 2.系统主要构成 3.主要参数 4.功能综述 5.适用范围 6.测试容量 7.软件升级 三、维护保养 四、售后服务 五、测试容量清单 重要提示: 1.本机使用220V±15%、50HZ交流电源。 2.当用本机对EEPROM、串行EEPROM、FLASH ROM、单片机片内ROM器件进行好坏判别或写入时,将会改变被测器件内部的数据,因此对正在使用中的这类器件进行好坏判别前,最好能先备份;而对这类器件进行数据显示或读入、比较时则不会改变数据。 3.EEPROM、FLASHROM、串行EEPROM、运算放大器、三端稳压器等器件不能进行型号识别。 4.当按下“好坏判别”键时,若显示“1—2”或“OU--数字”或“VCC—数字”时,按要求放好被测器件后,须再次按下“好坏判别”键。光耦合器件测试时会显示“1—2”,请参阅第7页的说明。 5.在进行各项测试之前,首先要确认测试电压与被测器件是否匹配,否则有可能损坏被测 器件。选择的原则是9.0V及15V测试电压仅CMOS40、CMOS45、数码管、光耦系列 可选,其它系列只能选3.3V及5.0V测试电压。仪器开机时黙认测试电压为5.0V。运放和三端稳压器的测试电压是自动控制的。 6.用户收到仪器后,应尽快将光盘中的文件复制到微机中。 7.本机仅在作为编程器使用时才可能与计算机相连,其它测试时无须连接。 一、操作指南 1.开箱验机 请你小心取出ICT33C+主机,将包装箱内的物品与装箱清单核对,若有短缺请及时与制造商联系。 ICT33C+装箱清单 ICT33C+主机----------一台 产品说明书------------一本 特殊器件测试板------一块 产品保修单------------一份 连接插针---------------两根 g. 光盘------------------------一张 h. 通讯电缆------------------一根 I.电源线---------------------一根 将电源线接于仪器后部插座内,打开仪器的电源开关,此时仪器应有以下反应: 液晶显示屏显示“CHECP—” 并伴有一声高音提示。 PASS指示灯﹑锁紧插座板上“数字电路”﹑“测试中”指示灯亮。仪器进入自检状态: 自检正常,有两声低音提示,显示屏显示“PLEASE”,可进行正常测试操作。 自检失败,有两声低音提示,显示“1—”数值。 自检失效时,不能进行各项操作,此时请确认以下内容: 锁紧插座上无集成电路,各种外接测试卡未连接在主机上。 锁紧插座任意两脚之间无短路线。 电源电压在规定范围内。 如果以上各点均正常,即表明仪器损坏,请及时与厂商联系。 2、产品操作部件介绍 产品操作部件名称请见图一 图二,锁紧插座板的功能请见11页。 图二 操作键功能 1.“0—9”键为数字键,用于输入被测器件型号、引脚数目。 2.“好坏判别/查空”键为多功能键。若输入的型号为EPROM、单片机(8031除外)器件,则它使仪器对被测器件进行查空操作;在其它型号时,它使仪器对被测器件进行好坏判别。若第一次按下了数字键,则至少要在输入三位型号数字后,输入该键才能被仪器接受;若在没有输入型号数字的时候输入该键,则仪器将对前一次输入的器件型号进行好坏测试。此功能用于测试多只相同的器件。 3.“型号判别”键为功能键,用于判别被测器件的型号,在未输入任何数字的前提下才是有效。 4.“代换查询”键为功能键,用于查询是否有相同逻辑功能相同引脚排列的器件,至少 在输入三位型号数字后,输入该键才能被仪器接受。 5.“老化/比较”键为多功能键,用于对被测器件进行连续老化测试,至少在输入三位型号数字后才能被仪器接受。当输入的型号是EPROM、EEPROM、FLASH ROM、单片机器件(8031除外)时,它将被测器件内部的数据与机内RAM中的数据进行比较。 6.“读入”键为功能键,当输入的型号是EPROM、EEPROM、FLASH ROM、单片机器件时才有效,它将被测器件内部的数据读入到机内RAM中并保存。 7.“写入”键为功能键,与“读入”键相似,它将机内RAM中的数据写入到被测器件中并自动校验。 8.“编辑/退出”键为多功能键,它可对机内RAM中的数据进行编辑(填充、复制、查找、修改);当对单片机及具有数据软件保护功

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