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由劣弧测量而引出的 一种新的描述及评价测量的方法 平夏 王国民 童云飞 （无锡市计量测试中心214101） 【摘要】：大半径小圆弧因可测量的圆弧段太短，会把测量误差放大，从而影响评价结果，引起单一的圆心和半径难以确定。本文讨论了如何在逻辑上避免了此问题，并且提出一种新的描述及评价测量的方法。 【关键词】：劣弧，小圆弧，描述，评价 0 引言 首先，要指出一个长久以来存在的误区。我们总是会看到这么一句话：“一直以来，劣弧的圆心及其半径的测定是一项未解决的技术难题……”其实，这并不是一个真实存在的很严重的问题。当然，这里并不是说能够测准劣弧圆心和半径，事实上确实是测不准，但是，为题在于：我们为什么一定要测准圆心和半径？这么做有何实际意义？ 事实上，真实存在的点处于弧状部位，我们实际测量的正是这些点的位置，而所谓用各种方法拟合出来的圆心和半径只是我们自己定义的一个假象的概念，它们的重要性是很低的。那么如何来描述及评价一段劣弧，是本文将要探讨的问题。 1 描述与评价 在几何量测量中，永远是取实际物体的某些特征点，即使是扫描也不可能“面面俱到”，所以测量的点的数目是可数的。某次测量了若干个点，我们称记录测量点的过程称之为“描述”。 在测量完毕后，我们要把记录的数据进行处理以得到测量的结果，那么我们称处理数据的过程为“评价”，那么将上述N个点拟合成的圆、平面、直