第7章 光辐射测量系统的性能及其测量.pptVIP

7.3 测量系统的视场响应 * 7.3 测量系统的视场响应 * 7.3 测量系统的视场响应 图7-19是测量系统视场响应的一种装置。准直管安装在导轨上，准直管口径应使其发出的平行光束足以充满待测系统的入射孔径。待测系统安置在一可绕直轴转动的支架上，旋转支架可使待测系统相对准直管有不同的视场角与方位角。支架回转轴应通过待测系统入射孔径的中心，这样系统绕支架垂直轴转动时，进入系统的光束口径不会被切掉。在零度视场，待测系统的光轴和准直管光轴大致重合，这可通过调节使待测系统的俯仰和升降装置来实现。 测量前首先要确定系统的光轴(零视场角)，它不一定是光学元件的中心和探测器中心的连线。测量时首先使待测系统在光轴附近得到最大的非饱和输出信号，在一定的方位角?，通过改变视场角?，找到对应最大输出信号一半时的? 1和? 2。在数个方位角处找到一系列的? 1和? 2值，并求出对应的中点平均值? 0=(? 1+? 2)/2。同理，对应一系列? 角，找到对应最大输出信号一半时的一系列?1和?2及其中点平均值?0，(? 0, ?0)可确定出待测系统的光轴。 使待测系统处于不同的视场角，记录系统的输出，得到如图7-17的系统视场响应。 * 7.3 测量系统的视场响应 视场外和视场内响应相比，前者属于杂散光，其输出信号比视场内响应的输出小几个甚至十几个数量级，因而测量相当困难。有两点必须特别注意： ① 测量环境的影响；② 测量系统响应线性度的影响 。 ① 测量环境的影响 主要是部分通过准直管照射到待测系统的光、或者照到待测系统以外部分的光被散射而照到测量暗室内。 测量室内空气不清洁，待测系统视场内大颗粒灰尘对光的散射(甚至镜面反射)影响也需考虑，因而保持测量室内空气清洁是十分必要的。 * 7.3 测量系统的视场响应 一种减少室内散射光对测量影响的方法如图7-21。首先在测量室内的一角单独建立一与测量室隔开封闭的灯室，可大大改善测量室内的散射水平；其次在待测系统后面设陷光器，使未能射入系统的直射光为陷光器所吸收；再在待测系统周围设置双圆心反射壁，壁为抛光金属表面，使由待测系统散射到璧上的光不能直接射回。 * 7.3 测量系统的视场响应 ② 测量系统响应线性度的影响 由于测量要求系统有较大的动态响应范围，系统响应线性度直接影响到测量的精确性。 改变积分球出射光孔到待测系统的距离是一种简单快速检查测量系统视场外响应的方法(图7-22)。 这种方法检测系统的总杂散光水平，能得到较大的杂散光信号。测量中探测器接收的辐照度变化不大，因此，对系统的动态范围要求不严。 * 第7章 光辐射测量系统的性能及其测量 7.1 测量系统的响应度 7.1.1 远距离小光源法 7.1.2 远距离面光源法 7.1.3 近距离面光源法 7.1.4 近距离小光源法 7.2 测量系统的光谱响应 7.3 测量系统的视场响应 7.4 测量系统的线性响应 7.5 测量系统的偏振响应 * 7.4 测量系统的线性响应 线性响应定义为测量系统的输出电压与入瞳处的辐射度量之比。 具有线性响应的系统应用最为广泛，其输入信号和输出信号值之间存在如下关系： 式中，R?是系统的辐射通量响应度，与入射量的大小无关，也称为系统增益；b是偏置电压，即输入信号为零时的输出值。 光辐射测量系统中，为在完全相同或接近条件下进行测量，广泛使用比较测量法。线性响应使测量信号的处理大为简化，尤其是复杂系统的信号处理。因为只要最少的参数就可表征线性响应系统的输入—输出特性。 * 7.4 测量系统的线性响应 在实际测量系统中，由于决定系统总响应度的各参数(例如探测器的响应度，放大器的增益，显示系统的特性等)都只能在一定的动态范围内是常数，因此，系统的非线性响应是不可避免的。信号过大时，系统的响应出现饱和现象；反之，输入信号过小时，系统响应淹没在噪声中，难以反映输入信号的变化。 表示测量系统线性动态范围的方法很多，较方便的是用响应度增益不偏度允许误差的范围来规定系统的线性工作范围(如图7-23)，线性动态范围上限Imax由输出信号偏离理论线性值的误差?确定, ?的大小取决于所允许的测量误差；下限Imin往往由系统的噪声电平确定。一般信号甚小时, 系统具有较好的线性响应，影响信号输出主要是噪声把信号湮没。 * 7.4 测量系统的线性响应 线性动态范围一般用数量级M来表示 例如，M=6，则系统的线性动态范围为106。 更精确地，可用二次或三次函数来表示输入-输出的关系，例如二次函数 将实际测得的输入-输出值，建立最佳逼近的回归方程，由最优逼近求得