3.8-3.9磁电阻效应(物理性能)要点.pptVIP

3.9 磁电阻效应 磁阻效应：具有磁性的金属、不同材料的电阻率在磁场中发生变化的现象称为磁阻效应。 原因：磁场改变了材料中的载流子（电子和空穴）的散射情况，从而使电阻改变。 磁阻率 电阻率随磁场的加大而增加时，称为正磁阻效应； 电阻率随磁场的加大而减少时，称为负磁阻效应； 磁场引起的电阻效率变化与未加磁场时电阻率之比称为磁电阻率。 （1）磁性多层膜 具有巨磁阻效应的磁性多层膜由铁磁金属层和非磁性金属层交替排列而成，每层厚度为几埃到几十埃。 磁性金属层通常是Fe、Co、Ni等元素; 非磁性金属层通常是Cr、Re、Cu、Ag等元素。 （2）颗粒膜 当互不相溶、或者固溶度很低的两种材料，一种以微粒的形式弥散在另一种材料薄膜中，称为颗粒膜， 颗粒膜是相分离的纳米结构薄膜，其组成材料可以是绝缘体、半导体或另一种金属。 分二大系列： Ag系：Co-Ag、FeNi-Ag Cu系：Co-Cu、 FeCo-Cu 磁阻变化的影响因素 磁场强度和磁场方向 颗粒直径 颗粒膜中巨磁电阻效应主要来源于界面散射，界面散射与颗粒直径成反比，即与颗粒的比表面积成正比。 颗粒的体积含量 * * 3.8磁性测量 磁性测量的任务主要包括以下三个方面： 一、对空间磁场和磁性材料磁性能的测量； 二、分析物质的磁结构、观察物质在磁场中的各种效应； 三、采用磁性测量原理测量其它物理量，即所谓“非磁性的磁测量法”，例如：磁性探伤、磁性诊断和磁性探矿等 。 3.8.1 空间磁场、磁通的测量 说明：若被测的磁场为直流磁场，可以用人为的方法改变穿过测量线圈的磁通 磁通表又称“韦伯计”，它是一种特殊结构的磁电系检流计。 它的主要特点是没有产生反作用力矩的“吊丝” ，即：反作用力矩系数W = 0， 磁通表的阻尼因数 p＝∞，是严重的过阻尼，磁通表的指针能随意平衡，不返回零位。 1.磁通表测量法 2 用磁通磁强计测量磁场 磁通磁强计的主要特点是：灵敏度高、结构简单、运行可靠，体积很小。测量磁场的范围是：± 0.08 ~ 180 A/m，分辨率为：(1~2) × 10-5 A/m。磁感应强度的测量上限为：0.01 T，分辨可达：10-18~10-19 T。 磁通磁强计探头结构 磁通磁强计探头的工作原理图 磁通磁强计原理电路方框图 3 用霍尔效应测量磁场 CT2型特斯拉计原理框图 霍尔效应测量磁场的特点：1. 可以连续读取被测磁感应的数值；2. 无触点，无可动元件，机械性能好，使用寿命长；3. 霍尔变换器可以做的很薄，能在很小的空间体积内和小气隙中测量磁场。 3.8.2 磁性材料交流磁特性的测量方法 1 磁性材料样品 环形闭合磁样品 1、6－磁线圈；2、5－磁轭；3－磁感应B测量线圈；4－样品；7一样品表面线圈 磁性材料交流磁特性的测量任务是：1）测量交流磁滞回线；2）交流磁化曲线及损耗。 2 用示波器测量交流磁滞回线 可以测量磁滞回线的示波器称“铁磁示波器”。用铁磁示波器可以直接测量磁性材料的磁滞回线。根据示波器上磁滞回线的波形，还可以确定磁性材料的有关参数，测量的不确定度约为±(7~10)%。 铁磁示波器原理图 3 动态磁化曲线的测量方法 动态磁化曲线的测量方法有：伏安法；互感器法；电阻法；自动测试记录法。这里仅介绍常用的电阻法，其原理电路如图： 用电阻法测量B—H曲线的原理电路图 4 用瓦特表法测量铁损 铁损是指在交流条件下，软磁材料每磁化一周所消耗能量的大小与磁化频率f 的乘积。单位质量的损耗称为“比铁损”。 铁损包括三大部分：涡流、磁滞和后效损耗。对于金属软磁材料来说主要是前两者，对铁氧体软磁材料主要是后两者。 铁损的测量方法主要是瓦特表法，也称“爱泼斯坦方圈”法，这是全世界各国用来测量铁损的标准方法。 考虑各向不同性的因素，剪裁时有1/2的试样顺着硅钢片的轧制方向，另l/2试样垂直于轧制方向裁取。方圈分大方圈和小方圈两种，大方圈样品的总重量是 10 Kg，小方圈样品的总重量是1Kg。 2007年诺贝尔物理学奖磁电阻效应 　　法国科学家阿尔贝·费尔和德国科学家彼得·格林贝格尔因发现巨磁电阻效应而荣获2007年诺贝尔物理学奖。据悉，巨磁电阻效应相关技术被用于读取硬盘中数据，这项技术是最近几年硬盘小型化实现过程中的关键。 　　瑞典斯德科尔摩皇家科学院发布的颁奖声明称，阿尔贝·费尔和彼得·格林贝格尔1988年各自独立发现了一种全新的物理效应-巨磁电阻效应，即一个微弱的磁场变化可以在巨磁电阻系统中产生很大的电阻变化。该系统非常有助于从硬盘中读取数据，因为机器在读取数据时必须把用磁记录的信息转换成电流。随着这项