问题总结-Diode介绍.docx

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二极管 1.耗尽近似与中性近似 2.内建电场 3.耗尽区宽度 4.内建电势 5.单边突变结 6.外加正向电压时载流子的运动情况 7.外加反相电压时载流子的运动情况 8.边界处少子分布 小注入时,当有外加电压V时P区与势垒区边界上的少子浓度为: 当有外加电压V时N区与势垒区边界上的少子浓度为: 9.少子浓度的边界条件 10.扩散电流 11.反向饱和电流 12.扩散电流与势垒区产生复合电流的比较 硅的禁带宽度约为1.1eV,在室温下,当V0.3v时正向电流以势垒区复合电流为主,当V0.45v时正向电流以扩散电流为主。在常用的电压范围内,硅PN结的正向电流以正向扩散电流为主。 硅的反向电流在室温下一势垒区产生电流为主,只有在很高的温度下才以反向扩散电流为主。 13.正向导通电压 14.薄基区二极管 15.大注入效应 16.大注入边界条件 17.雪崩倍增 18.雪崩击穿的温度特性 19.齐纳击穿 20.齐纳击穿的温度特性 21.雪崩击穿与齐纳击穿的比较 22.热击穿 23.势垒电容 24.扩散电容 25.势垒电容与扩散电容的对比 26.减小反向恢复时间的方法 26.

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