材料分析方法考试重点汇编.docVIP

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  • 2017-05-14 发布于湖北
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材料分析方法考试重点汇编

材料分析方法 X 射线的本质是一种横电磁波,具有波粒二象性,伦琴首先发现了 X 射线,劳厄揭示了 X 射线的本质。X射线的波长范围在0.001-10nm,用于衍射分析的X射线波长范围0.05-0.25nm。 X 射线的产生 通常获得X射线的方法是利用一种类似热阴极二极管的装置,用一定材料制作的板状阳极板和阴极密封在一个玻璃-金属管内,阴极通电加热,在阳极和阴极间加一直流高压U,则阴极产生的大量热电子e将在高压场作用下飞向阳极,在它们与阳极碰撞的瞬间产生X射线。 连续X射线谱:由于极大数量的电子射到阳极上的时间和条件不可能相同,因而得到的电磁波将具有连续的各种波长,形成连续X射线谱。 特征X射线谱:当加于X射线管两端的电压增高到与阳极靶材相应的某一特定值时,在连续谱的某些特定的波长位置,会出现一系列强度很高,波长范围很窄的线状光谱,这就是特征X射线谱。 光电效应:入射光子被原子吸收后,获得能量的电子从内层溢出,成为自由电子,这种原子被入射辐射点离的现象即光电效应。 俄歇效应:一个k层空位被两个L层空位代替的过程的现象就是俄歇效应。 靶材和滤波片的选择原则 分别从吸收限波长和原子序数两个方面表达滤波片和靶材的选择规程(表达式) 滤波片的选择: λKβ(光源) λK(滤波片) λKα(光源)α Z靶= 40时,Z滤 = Z靶 – 1 Z靶 40时,Z滤 = Z靶 – 2 阳极靶材的选

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