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質量管理簡史 質量檢驗階段: 20世紀初美國工程師泰勒(F.W.Taylor)提出了“科學管理理論”,創立了“泰勒制度”. 統計質量控制(SQC)階段: 20世紀30年代美國貝爾實驗室的休哈特(W.A.Shewhart)應用數理統計提出了SPC(statistical Process Control,統計制程控制)理論. 1929年,同一實驗室的道奇(H.F.Dodge)和羅米格(H.G.Roming)提出了統計抽樣檢驗原理和抽檢表. 全面質量管理(TQM)階段. 1961年,美國菲根堡姆(A.V.Feigenbhaou)發表了《全面質量管理》一書. 1: 什麼是 SPC? Statistical Process Capability ----統計制程能力, 常用的項目如下: b.制程能力分析 a.管制圖 c.柏拉圖,推移圖 d.直方圖 …… 計數值管制圖: (1) P-Chart: 不良率管制圖 (2) Pn-Chart: 不良數管制圖 (3) C-Chart: 缺點數管制圖 (4) U-Chart: 單位缺點數管制圖 SPC系統操作作業規范 1 在漢達內部網站登陸SPC管制系統 2 用工號和密碼登陸SPC管制系統。初次登陸者,密碼為2003,登入後自行更改密碼。 3 ME在量產前發行尺寸MN後將標準建立到SPC系統，以供IPQA/PQC進行數據收集錄入,首先ME進入《ME作業》頁面，點選機種名稱；選取廠別後建立機種名稱。 4 ME的工作權限僅限於個人，即每個ME隻能在自己建立的機種上進行操作，故ME之間可進行工作移交，將SPC權限移交給交接的ME,ME對尺寸列表進行版本更新時，正式發行後必須同時對SPC系統進行更新，保持正式發行之尺寸列表與SPC系統上的尺寸列表的一致性。 5 產品第一次生產時IPQC/IPQA首先進入《設定抽樣參數》，將ME建立好的機種設定取樣數目，取樣組數，CPK標準；(如客戶有特殊要求，則以客戶要求為準；若無客戶特別要求，取樣數目為3，取樣組數均為25組，CPK標準為1.33。DELL機種CPK標準為1.50。) 此機種後續生產不需再設定抽樣參數。 6 IPQA/IPQC錄入數據時，首先進入《錄入測量數據》頁面：分別選取廠別，機種，部品，測量區域；key in模號，如無模號，則不需填寫；點選數據測量的時間段，將原始數據全部錄入後點選”提交”。 7 當數據組數超出25組時，錄入完原始數據後須進入《CPK分析》頁面進行CPK計算。選取廠別，機種，部品，測量區域，模號（若無模號則選N/A），需計算的終止時段後提交計算。系統出現CPK計算值和標準. 8 IPQC/IPQA進行CPK計算後觀察X Bar-R Chart，點選《X-R圖表》，系統劃出X bar-R chart 和CPK值。 9 IPQC/IPQA檢查CPK是否未達到標準。若未達標，則系統自行產生《品質反映速報》。下一步進入《速報簽核》頁面發送速報; IPQC/IPQA進入《速報簽核》頁面點選”發送速報”，填寫機種責任ME,QE及產線責任人的郵件名，三天後未結案須知會課級主管的郵件名，五天後未結案須知會經理級主管的郵件名，七天後未結案須知會廠長級主管的郵件名。最後提交。系統將自動發出郵件。 10 QE收到系統郵件後按照品質速報號碼進入SPC系統進行審核數據，數據審核無誤後指派原因分析，改善對策及效果確認的責任人員。將責任人的郵件名錄入後提交;相關ME收到系統郵件後與QE,產線相關責任人一起分析原因，採取相應對策，改善後進入系統提交原因分析和改善對策; QE進行改善效果確認OK後進入系統提交效果確認，關閉品質反映速報。 11 SPC系統設有查詢功能，可以查詢尺寸列表及品質反映速報的結案狀況。 12 當系統出現障礙時，可聯絡系統管理員;當ME.QE部門新進人員時，必須向系統管理員申請帳號; IPQC/IPQA在凌晨0：00交接時段錄入數據時，須注意更改錄入數據的日期; IPQC/IPQA在發現數據錄入錯誤更改後須重新進行CPK計算,因數據錯誤產生的速報必須請系統管理員刪除。 R 管制圖公式 : X - R 管制圖適用計量 自然管制上限 ( UCL ) =D4 x R 自然管制下限 ( LCL ) =D3 x R 一般不做管控 註: D3, D4 : 參數值須查表. 值之大小依樣品數目 決定. R 的值是 R 管制圖的中心值. P管制圖適用計數 P管制圖適合於以下情況： 1 僅能以不良品表示品質