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* 与非门参数测试 一、实验目的 学会使用TTL逻辑电路芯片。 掌握组合逻辑电路的功能测试方法。 学会组装和调试组合逻辑电路。 二、实验内容 1、测量TTL与非门输出高电平 、输出低电平 空载 带载 (5.1K) 带载 (510) VOH VOL TTL与非门的电源电压只能是+5V TTL与非门多余输入端处理:接+5V、并联 、悬空 2、测量门传输延迟时间图5.16.5 3 测量TTL与非门的电压传输特性 在示波器上用X-Y显示方式观察曲线,并用坐标纸描绘出特性曲线,在曲线上标出VOH、VOL、VON、VOFF,计算VNH、VNL 。 二、实验内容 3 测量TTL与非门电压传输特性 测试要点: 1、首先:观察Vi、VO波形(直流耦合方式)。 2、按“display”键,菜单中格式 “YT”改为“XY”。 3、找到电压传输特性的坐标原点。 4、画出特性曲线并标上出所有参数。 如何找“XY”轴坐标原点? 二、实验内容 三、实验注意事项 1、 TTL与非门不用的输入端不能接低电平。 2、 TTL与非门的输出端不能直接接+5V或地,也不能与其它输出端并联。 3、CMOS门的电源电压为3~18V, 4、CMOS与非门不用的输入端不能悬空,应按逻辑功能接高电平VDD或低电平VSS。 {end} 组合逻辑电路设计 一、实验目的 熟悉用SSI(小规模集成电路)设计组合逻辑电路的方法; 学会组装和调试组合逻辑电路。 掌握多片SSI组合电路的级联方法。 5 设计“大小比较电路” 设计一个能判断1位二进制数A与B大小比较电路 。 写出设计过程,画出逻辑电路图。 将A、B分别接高、低电平,L1、L2、L3接逻辑灯。 测试结果记入表中 510 W A B L1(AB) L2 ( A B) L3 (A = B) 0 0 0 1 1 0 1 1 二、实验内容 4 大小比较电路 实验内容 3 测量TTL与非门的电压传输特性 1 测量TTL与非门输出高电平 、输出低电平 2 测量门传输延迟时间图5.16.5 芯片管脚图 {end} *
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