双电桥测低值电阻的研究分析.docx

北京航空航天大学物理实验 双电桥测低电阻研究性实验报告 PAGE \* Arabic \* MERGEFORMAT20/NUMPAGES \* Arabic \* MERGEFORMAT20 基础物理实验研究性报告 ——双电桥测低值电阻 实验专题双电桥测低值电阻第一作者柏杨第二作者肖锦锋院（系）名称软件学院 2014年12月13日 星期六 目录  TOC \o 1-3 \h \z \u  HYPERLINK \l _Toc406271274 摘要  PAGEREF _Toc406271274 \h 3  HYPERLINK \l _Toc406271275 正文  PAGEREF _Toc406271275 \h 3  HYPERLINK \l _Toc406271276 一、实验目的  PAGEREF _Toc406271276 \h 3  HYPERLINK \l _Toc406271277 二、实验原理  PAGEREF _Toc406271277 \h 3  HYPERLINK \l _Toc406271278 三、实验仪器  PAGEREF _Toc406271278 \h 6  HYPERLINK \l _Toc406271279 四、实验内容  PAGEREF _Toc406271279 \h 6  HYPERLINK \l _Toc406271280 五、数据处理  PAGEREF _Toc406271280 \h 7  HYPERLINK \l _Toc406271281 1、原始数据记录  PAGEREF _Toc406271281 \h 7  HYPERLINK \l _Toc406271282 2、对数据进行线性回归处理  PAGEREF _Toc406271282 \h 8  HYPERLINK \l _Toc406271283 3、不确定度的计算  PAGEREF _Toc406271283 \h 9  HYPERLINK \l _Toc406271284 4、最后结果：  PAGEREF _Toc406271284 \h 10  HYPERLINK \l _Toc406271285 六、误差分析  PAGEREF _Toc406271285 \h 10  HYPERLINK \l _Toc406271286 1、铜杆有效接入长度的测量误差所引起的实验误差  PAGEREF _Toc406271286 \h 10  HYPERLINK \l _Toc406271287 2、两端的接触电压和附加电阻所引起的误差。  PAGEREF _Toc406271287 \h 11  HYPERLINK \l _Toc406271288 3、开尔文电桥消除附加电阻对测量结果影响  PAGEREF _Toc406271288 \h 12  HYPERLINK \l _Toc406271289 4、由电桥灵敏度引起的误差  PAGEREF _Toc406271289 \h 13  HYPERLINK \l _Toc406271290 七、实验注意事项  PAGEREF _Toc406271290 \h 15  HYPERLINK \l _Toc406271291 1、实验过程中注意事项  PAGEREF _Toc406271291 \h 15  HYPERLINK \l _Toc406271292 2、故障分析  PAGEREF _Toc406271292 \h 15  HYPERLINK \l _Toc406271293 八．实验改进  PAGEREF _Toc406271293 \h 16  HYPERLINK \l _Toc406271294 1、测量方法的改进  PAGEREF _Toc406271294 \h 16  HYPERLINK \l _Toc406271295 2、对实验器材的改进  PAGEREF _Toc406271295 \h 17  HYPERLINK \l _Toc406271296 九、感想与收获  PAGEREF _Toc406271296 \h 18  HYPERLINK \l _Toc406271297 参考文献  PAGEREF _Toc406271297 \h 19