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2016-07-23 发布于湖北
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扫描电子显微镜在高分子中的应用

扫描电子显微镜（ Scanning Electron Microscope ）;简介：;;基本原理：;基本原理;示意图：;;特征X射线;背射电子;二次电子像（主要分析）;凸凹不平的样品表面所产生的二次电子，用二次电子探测器很容易全部被收集，所以二次电子图像无阴影效应，二次电子易受样品电场和磁场影响。二次电子的产额： δ∝ K/cosθ K为常数， θ为入射电子与样品表面法线之间的夹角，（ θ 角越大，二次电子产额越高，这表明二次电子对样品表面状态非常敏感。） ;形貌衬度原理;电子成像应用。;SEM 固体材料样品制备方便，只要样品尺寸适合，就可以直接放到仪器中去观察。样品直径和厚度一般从几毫米至几厘米，视样品的性质和电镜的样品室空间而定。对于绝缘体或导电性差的材料来说，则需要预先在分析表面上蒸镀一层厚度约10～20 nm的导电层。否则，在电子束射到该样品上时，会形成电子堆积，阻挡入射电子束进入和样品内电子射出样品表面。导电层一般是二次电子发射系数比较高的金、银、碳和铝等真空蒸镀层。? ?在某些情况下扫描电镜也可采用复型样品。;SEM试验样品的制备 ;参考文献