环境分析化学 第六章.ppt

第六章 X—射线荧光分析 （X—Ray Fluorescence Spectrometry） ;§1 X—Ray的产生;概 述;X—Ray荧光分析法的定义;X—Ray是怎样产生的呢？;在分析上获得X—Ray的三种办法;X—Ray光谱的激发;电子束激发;电子束激发装置;图6-1 X射线管的示意图;连续光谱和特征光谱;连续X—Ray光谱的产生机理;连续X—Ray光谱的特点;图6-2 X射线管电流、电压和靶材的改变对连续光谱的影响 （a）管压、靶材（Z）固定时，连续光谱强度I∝管流 （b）管流、靶材（Z）固定时，连续光谱强度I∝(管压)2 （c）管压、管流固定时，连续光谱强度I∝ Z (注：Z代表原子序数);连续X—Ray强度的特点之一;连续X—Ray强度的特点之二;连续X—Ray强度的特点之三;连续X—Ray光谱的短波限;短波限存在的原因;短波限的计算;特征X—Ray光谱的由来;图6-3 钨靶X射线管在100千伏下的 X射线光谱强度分析;特征X—Ray光谱的产生机理;图6-4 特征X射线产生示意图;特征X—Ray光谱的特点;X射线光谱分析理论基础 莫塞莱定律 ;特征X射线的频率; 由图6-4可以看到，当K层（最内层）电子被击出后，所有外层（L、M、N…）的电子都有可能跃迁到K层空位，同时辐射出K系特征X射线，其中由L层电子跃迁到K层而辐射的X射线名为Kα射线，此时（式6-7）中的n1=2，n2=1；如果电子由M层跃入K层，则产生Kβ射线；由N层（n=4）跃入K层，则产生Kγ射线。由式可知，它们的频率大小为：vKα ＜ vKβ ＜ vKγ，波长顺序则正好与此相反，即λKα ＞ λKβ ＞ λKγ ; 同样如果L、M…层电子被击出，并由较外层电子跃入填补空位时就产生L、M…等系的谱线 对于给定元素的特征光谱强度（I）与X光管的电压（V）和电流（i）的关系，一般可表示为： I=Ki（V—Vq）n （式6-8） 式中：K为比例系数； Vq为该特征谱线的临界激发电位； n为经验常数，其值为1～3。 从上式可知特征谱线的强度随管压和管电流的增加而增大。 在X射线荧光光谱分析中，连续X射线谱可以用来作为大部分分析元素的激发源，而特征X射线辐射则常用来选择激发某些特定的分析元素 ;原级X—Ray激发;X射线荧光;荧光产额的定义及计算; 例如，对于K层受激发的NK个原子，K系谱线的荧光产额为： ωK= NK，f / Nk （式6-10） 式中 NK，f= … （式6-11） 它代表产生K系所有各谱线的原子数。表6-1列出了部分元素的K和L系荧光产额的平均值 ;表6-1 部分元素的K和L系荧光产额 ;入射X线的选择;用原级X射线激发试样的优点;X射线荧光分析的发展;放射性同位素激发;§2 X-ray的吸收与衍射;X-ray的强度衰减;X-ray的吸收;朗伯-比尔定律;质量衰减系数;当吸收物质是由几种（j）元素组成的复杂物质时，则物质的质量衰减系数等于各组成元素质量衰减系数乘以各种元素的质量分数： ;举例：钼的质量衰减系数与入射线波长的关系;图6-5 钼的质量吸收系数与波长的关系;例如λ0.6198A时，钼的质量衰减系数近似地随λ3而线形增加，接近0.6198A时，X-ray光子的能量正好略大于钼原子K层电子的结合能，恰好能使K层电子激发，这时吸收几率最大，故μm达到最大。当λ=0.6198A时，X-ray的能量已不能激发K层电子，吸收发生突变， μm降至最小，就是钼原子的K吸收限（ λ K）。以后μm又随λ3而线形地增大，直到λ=4.2984A又出现新的突变，达到钼原子的L1吸收限λ LⅠ ， μm再次下降。由于L层电子有三个支能级，故有三个吸收限 λ LⅠ 、 λ LⅡ 和λ L Ⅲ。 ;某些元素的特征X光谱线和吸收限;利用某元素的吸收限，可以进行X-ray吸收化学分析。定性是根据得到的吸收限与已知元素的吸收限进行比较。还可以根据表中给出的吸收限去激发元素，得到的激发效率最大，因为只有波长小于并接近于吸收限最好。还可以根据吸收限的值，选择滤光片以获得单色X-ray ;X-ray的散射;相干散射;晶体是按照一定规律排列的空间点阵，其中原子间的距离与X-ray的波长具有相同的数量级，当X-ray射到晶体上时，这些原子中受迫