RT-II第3章射线照相质量的影响因素研究.pptVIP

射线照相质量的影响因素;第三章的主要内容;一、基本概念及相关定义;4、像质计： (1)为便于定量评价射线照相灵敏度，常用与被检工件或焊缝的厚度有一定百分比关系的人工结构，如金属丝、孔、槽等组成所谓透度计。像质计（像质指示器，透度计）是测定射线照片的射线照相灵敏度的器件，根据在底片上显示的像质计的影像，可以判断底片影像的质量，并可评定透照技术、胶片暗室处理情况、缺陷检验能力等。 (2)最广泛使用的像质计主要是三种：丝型像质计、阶梯孔型像质计、平板孔型像质计，此外还有槽型像质计和双丝像质计等。像质计应用与被检验工件相同或对射线吸收性能相似的材料制做。各种像质计设计了自己特定的结构和细节形式，规定了自己的测定射线照相灵敏度的方法 ;我国相关检测标准对像质计的选用：;5、像质计灵敏度： 作为底片影像质量的监测工具，由此得到灵敏度称为像质计灵敏度。 线型像质计的相对灵敏度： K=dmin/TA×100% 平板孔型像质计的等效像质计灵敏度： 式中：χ---透照厚度，T---像质计厚度，h---像质计孔径。 ;为什么说像质计灵敏度不能等于缺陷灵敏度？;3）对裂纹、未熔合之类方向性很强的面积型缺陷，即使底片上显示的像质计灵敏度很高，黑度、不清晰度均符合标准要求，有时也有难于检出甚至完全不能检出的情况。 4）面积型缺陷检出灵敏度与像质计灵敏度存在着较大差异。造成这种差异的影响因素很多，例如焦点尺寸等几何因素的影响，射线透照方向与缺陷平面有一定的夹角而造成透照厚度差减小的影响等。要提高此类缺陷的检出率，就必须很好考虑透照方向及其他有助于提高缺陷检出灵敏度的措施。;缺陷检出率与哪些因素有关？;射线照相灵敏度是射线照相对比度(小缺陷或细节与其周围背景的黑度差)，不清晰度(影像轮廓边缘黑度过渡区的宽度)，颗粒度(影像黑度的不均匀程度)三大要素的综合结果，而三大要素又分别受到不同因素的影响。 黑度是射线照相影像质量的基础。;二、影响射线照相灵敏度的因素;三、射线照相对比度;2、底片对比度越大，影像越容易被观察到和识别清楚。 3、为检出较小的缺陷，获得较高的灵敏度，就必须设法提高底片对比度。但在提高对比度的同时，也会产生一些不利后果，例如试件能被检出的厚度范围减小（厚度宽容度 ↓ ），底片上的有效评定区域缩小，曝光时间延长，检测速度下降，检测成本增大等等。;4、射线照相对比度公式推导 ： 主因对比度公式： 式中：△I——因试件中存在厚度为△T的缺陷而引起的一次透射射线强度之差(△ I = I ′p—Ip)； I—无缺陷处的射线总强度，包括一次透射射线和散射线(I = I p+ I s)； μ—试件材料的线衰减系数； △T—缺陷在射线透照方向上的尺寸； n—散射比，散射线强度与一次透射射线强度之比(n= I / I p) 公式的导出是从以下三个假设为基本前提： (1)试件中缺陷厚度相对于试件厚度来说很小(△TT)，且缺陷中充满空气，其衰减系数忽略不计。 (2)缺陷的存在不影响到达胶片的散射线量(Is＝Is’) (3)缺陷的存在不影响散射比(n＝n’) ; 胶片对比度公式：;射线照相对比度公式：;射线底片的对比度△D是主因对比度 和胶片对比度G共同作用的结果 。 主因对比度是构成底片对比度的根本原因。 胶片对比度可以看作是主因对比度的放大系数，(通常这个系数为3～8)。;5、射线照相对比度的影响因素;5、射线照相对比度的影响因素;3）衰减系数μ与试件材质和射线能量有关。 A. 源的种类：X射线（连续谱）和γ射线（线状谱）的差异 B.能量 ↑→μ↓→ΔD↓ 在试件材质给定的情况下，透照的射线能量越低，线质越软，μ值越大，在保证射线穿透力的前提下，选择能量较低的射线进行照相，是增大对比度的常用方法。同时带来问题是曝光时间增加。 C.工件材质和缺陷内含物│μ1－μ2│：取决于物质原子序数和密度： │μ1－μ2│ ↑→ΔD↑ ;4）减小散射比n可以提高对比度。 n的相关因素（源的种类、射线的能量、工件材质、工件形状、散射线屏蔽） A.源的种类：X射线、高能X射线和γ射线的差异； B.射线能量：能量与透照厚度； C.工件材质：钢与轻金属； D.工件形状：大厚度差工件、厚而窄的工件、有余高的焊缝； E.散射线屏蔽措施:因此透照时就必须采取有效措施控制和屏蔽散射线，如使用铅窗口与铅屏蔽，这些也将降低工作效率，使曝光时间延长。;B. 影响胶片对比度的因素 : 胶片种类、底片黑度，显影条件 1)不同类型的胶片具有不同的梯度