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- 2016-07-29 发布于湖北
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第九章 电子光学基础
第1节 电子显微镜的发展
第2节 电子的波动性
第3节 电磁透镜
第4节 电磁透镜的光学特性;第1节 电子显微镜的发展
电子显微分析技术:用具有一定能量的电子束照射样品,通过对激发出的信息对材料中微小区域的晶体结构、显微组织、微区化学成份、化学键和电子分布状态等进行分析的技术
电子显微镜:用于电子显微分析的电子光学仪器
微观组织结构决定材料的性能;1、研究对象:材料的微结构与微区成分,具体为
晶体结构(面心立方…)与晶体缺陷(位错…)
晶粒尺寸与形态
微区化学成分(基体、析出相的成分)
多相材料中各相的成分、结构、形态、含量与分布
界面结构(表面,相界,晶界)
位向关系(新相与母相,孪生相)
夹杂物;2、发展历史; 电子显微镜的主要类型:
? 透射电子显微镜(透射电镜,Transmission Electron Microscope ,TEM )
电子束穿透样品
? 扫描电子显微镜(扫描电镜,Scanning Electron Microscope,SEM)
电子束在样品表面扫描
? 扫描透射电子显微镜(扫描透射电镜, Scanning Transmission Electron Microscope,STEM)兼有上述两者的性能。
以电子束加速电压分:
超高压(1MV)
中等电压(200-500kV)透射电镜
低电压(~1kV)扫描电镜;
以电子
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