无机非金属材料研究方法期末考试重点.docVIP

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2017-06-07 发布于重庆
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无机非金属材料研究方法期末考试重点.doc

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无机非金属材料研究方法期末考试重点

SEM 与TEM的区别 1、SEM样品收集的有二次电子和背散射电子，二次电子用于表面成像，背散射用于不同平均原子量之间的像，就是电子打在样品上，激发出来的二次电子和背散射电子被收集而成的像. TEM是透射电镜，它可以表征样品的质厚衬度，也可以表征样品的内部晶格结构。投射电镜的分辨率比扫描电镜要高一些。2、SEM样品就我们普通的金相样品酒可以拿去做，而TEM样品观察的部分必须减薄到100nm厚度以下，一般做成直径3mm的片，然后去做离子减薄，或双喷。