数字系统设计基础实验讲义3.doc

数字系统设计基础实验指导书2 前 言 通过基本门电路性能测试实验使学生掌握基本门电路的工作原理、门电路的外特性（IC门电路的引脚排列顺序，输入/输出电平要求等）；通过计算机仿真技术使学生掌握组合逻辑电路的设计方法，掌握触发器功能及其波形关系，掌握时序电路的设计方法，培养学生的实践动手能力和实验技能。 目 录 第一章数字电路实验基本知识 数字集成电路封装 数字电路实验逻辑规定 数字电路实验测试及故障查找、排除 数字系统设计实验步骤 第二章 数字系统设计实验器材 基本实验仪器 实验所需设备:数字电路实验装置，示波器，万用表，直流电源，计算机 数字系统设计实验系统 第三章 数字系统设计实验 实验一、基本逻辑门逻辑实验） 基本逻辑门电路参数测试 实验二、组合逻辑电路部件实验 组合逻辑电路实验 实验三、时序电路设计 触发器与移位寄存器实验，计数器实验 实验四、基于HDL(VHDL,Verilog)基本逻辑电路设计 1.分频器实验 2.多路选择器实验 3.BCD-7段译码器实验 4.定时器实验 实验五、综合实验 第一章 数字电路实验基本知识 一、数字集成电路封装 中、小规模数字集成电路中最常用的是TTL电路和CMOS电路。TTL器件型号以74（或54）作为前缀，称为74/54系列，譬如74LS00、74F181、54S86等。中、小规模CMOS数字IC电路主要是4XXX/5XXX（X代表0～9的数字）系列，高速CMOS电路HC（74HC系列），与TTL兼容的高速CMOS电路HCT(74HCT系列)。TTL电路余COMS电路各有优缺点，TTL速度高，CMOS电路功耗小、电源范围大、抗扰能力强。 数字集成电路器件有多种封装形式。实验中所用的74系列器件封装选用双列直插式（DIP），图1示是双列直插封装的正面示意图。双列直插封装有以下特点: 1、从正面看，器件一端有一个半圆缺口，这是正方向的标志。IC芯片的引脚序号是以次半圆缺口未参考点定位的，缺口左下边的第一个引脚编号为1，IC引脚编号按逆时针方向增加。图中的数字表示引脚编号。DIP封装的数字集成电路引脚数有14、16、20、24、28等多种。 2、DIP封装的器件有两列引脚，引脚之间的间距为2.54毫米，两列引脚之间的距离有宽（15.24毫米）、窄（7.62mm）两种。两列引脚之间的距离能够作微小改变，但引脚间距不能改变。将器件插入实验平台上的插座（面包板）或从其上拔出时要小心，不要将器件引脚搞弯或折断。 3、74系列器件一般右下角的最后一个引脚是GND，右上角的引脚是Vcc。例如，14引脚器件引脚7是GND；引脚14 是Vcc；16引脚器件的8引脚是GND，16引脚是Vcc。但也有例外，如16引脚的双JK触发器74LS76，引脚13是GND，引脚5是Vcc。因此，使用集成电路器件时要先看清楚它的引脚分配图，找对电源和地引脚，避免因接线错误造成器件损坏。 二、复杂可编程逻辑器件（CPLD）封装 数字电路实验系统上，使用的复杂可编程逻辑器件EPM7128SLC84是84引脚的PLCC（Plastic Leaded Chip Carrier）封装，图2是封装正面。器件的正面上方的小圆点指示引脚1，引脚编号按逆时针方向增加，引脚2在引脚1的左边，引脚84在引脚1的右边。EPM7128的电源引脚号、地引脚号有多个，插PLCC器件时，器件正面的左上角（缺角）要对准插座的左上角。拔PLCC器件应使用专门的起拔器。 当然，CPLD器件还有TQFP（PQFP、RQFP）及BGA封装，他们在更小的封装尺寸提供更多的引脚数目。 必须注意:不能带电插拔器件。插拔器件、连接或安装线路只能在关断电源的情况下进行。 三、数字电路逻辑状态规定 数字电路是一种开关电路，开关的两种状态“开通”与“关断”，常用二元常量0和1来表示。数字电路的输入、输出量，一般用高、低电平来表示，输出量与输入量之间的关系是一种因果关系，这种因果关系可以用逻辑表达式来描述，因此数字电路又称为逻辑电路，数字电路的状态0和状态1也称为逻辑状态0和逻辑状态1。在数字逻辑电路中，区分逻辑电路状态“1”和“0”信号的电平一般有两种规定，即正逻辑和负逻辑。正逻辑规定，高电平表示逻辑“1”，低电平则表示逻辑“0”。负逻辑规定，低电平表示逻辑“1”，高电平则表示逻辑“0”。工程中多数采用正逻辑描述。对于TTL电路正逻辑“1”电平在2.4～3.6V之间，逻辑“0”电平在0.2～0.4V之间。 四、数字电路测试机故障查找、排除 数字电路测试 数字电路测试一般分为静态测试与动态测试两部分。静态测试指的是，给定数字电路若干组静态输入值，测定数字电路的输出值是否正确。数字电路状态