单晶少子寿命测试.ppt.pptVIP

单晶少数载流子寿命测试 1.实验目的 2.实验原理 高频源提供的高频电流流经被测样品，当红外光源的脉冲光照射样品时，单晶体内即产生非平衡光生载流子，使样品产生附加光电导，样品电阻下降。 由于高频源为恒压输出，因此，流过样品的高频电流幅值，此时增加ΔI。 光照消失后，ΔI便逐渐衰退，其衰退速度取决于光生非平衡载流子在晶体内存在的平均时间(即寿命τ)。 在小注入条件下，样品光照内复合是主要因素。 ΔI将按指数规律衰减，在取样器上产生的电压变化ΔV，也按同样的规律变化。 仪器的工作原理简化方框图 此调幅高频信号经检波器解调和高频滤波，再经宽频放大器放大后输入到脉冲示波器，在示波器上就显示出一条如右图所示的指数衰减曲线，衰减的时间常数τ就是欲测的寿命值。 3.仪器介绍 LT-2型单晶寿命测试仪 前面板说明 后面板说明 4.实验内容 测试时将样品置于主机顶盖的样品承片台上，通过调节示波器同步电平及释抑时间内同步示波器，使仪器输出的指数衰减光电导信号波形稳定下来，然后在示波器上观察和计算样品寿命读数。 （1）接上电源线以及用高频连接线将 CZ 与示波器 Y 输入端接通，开启主机及示波器，预热15分钟。在没放样品的情况下，可调节W2使检波电压为零。 （2）在电极上涂抹一点自来水（注意:涂水不可过多，以免水流入光照孔），然后将清洁处理后的样品置于电极上面，此时检波电压表将会显示检波电压。如样品很轻，可在单晶上端压上重物，以改善接触。 （3）按下K接通红外发光管工作电源，旋转W1，适当调高电压。 （4）调整示波器电平及释抑时间内同步，Y轴衰减X轴扫描速度及曲线的上下左右位置，使仪器输出的指数衰减光电导信号波形稳定下来，并与屏幕的标准指数曲线尽量吻合。 （5）关机时，要先把开关K按起。 5.思考练习 1、为什么要在样品上涂抹少量自来水？ 2、在实际工艺中如何延长少子寿命？ 上一页 下一页 主目录 返 回 * 实验目的 实验原理 仪器介绍 实验内容 思考练习 理解单晶少数载流子寿命的测试原理； 掌握单晶少数载流子寿命的测试方法。 ???? 主机承片台：样品的承片台位于主机箱顶盖中央，由两个电极和红外光透光孔组成，测试时将样品置于两电极和红外光透光孔上。 * *