数电实验报告册.doc

本科学生综合性实验报告 学号 094090220 姓名 熊兆凯 学院 物理与电子信息学院 专业、班级 物理094班 实验课程名称 数字电子技术基础实验 教师及职称 张超 开课学期 2011 至 2012 学年 上 学期 填报时间 2011 年 11 月 25 日 云南师范大学教务处编印 一．实验设计方案 实验序号 实验八 实验名称 移位寄存器实验 实验时间 2011年11月29日 实验室 同析楼215 1．实验目的 1、掌握移位寄存器的工作原理，逻辑功能及应用。 2、掌握二进制码的串行并行转换技术和二进制码的传输。 2． 实验原理、实验流程或装置示意图 3．实验设备及材料 SAC-DS4数字逻辑电路实验箱 1个 万用表 1块 74LS74 双D触发器 2片 74LS194 四位双向通用移位寄存器 2片 4．实验方法步骤及注意事项 1、测试单向右移寄存器的逻辑功能 用两块74LS74按图13-1接好实验电路。74LS74芯片14脚接+5V,7脚接地。 图13-1 利用直接复位端RD（SD =1 、RD =1→0→1）先使寄存器清“0”（Q1 Q2 Q3 Q4 =0000）；然后使D1 =1，在CP1 →CP4 （4个CP）作用下，4个“1”信号寄存于该寄存器中；之后再使D1＝0，在CP5→CP8（4个CP）作用下4个“0”信号寄存于该寄存器中，将结果记入表13-1中。 表13-1 CP↑ RD SD D1 Q1 Q2 Q3 Q4 0 0 1 Φ 1 1 1 1 2 1 1 1 3 1 1 1 4 1 1 1 5 1 1 0 6 1 1 0 7 1 1 0 8 1 1 0 Φ－任意状态 将D1和Q4通过非门相连，构成右移循环计数器, 在CP脉冲作用下，观察循环右移 功能，将实验结果记入表13-2中。 表13-2 CP Q1 Q2 Q3 Q4 0 0 1 1 1 1 2 1 1 3 1 1 4 1 1 5 1 1 6 1 1 7 1 1 8 1 1 2、测试四位双向移位寄存器的逻辑功能 74LS194（T453）是由四个触发器和若干个逻辑门组成的TTL中规模集成电路，其管脚引线见附录，逻辑图见图13-2。Q1 、Q2 、Q3 、Q4 是并行输出端；CP是时钟脉冲输入端；D1D2D3D4是数据并行输入端；Cr是清零端；SRSL分别是右移和左移工作方式数据输入端；S1S0是工作方式控制端，它的四种不同组合分别代表送数（S1S0=11）、保持（S1S0=00）、右移（S1S0=01）、左移（S1S0=10）四种不同工作状态。 图13-2 74LS194四位双向移位寄存器逻辑电路 按图 13-2接线， 74LS194芯片16脚接+5V,8脚接地。 按表13-3检查74LS194的功能。 ①清除：Cr=0，S1、S0、CP、SR、SL、A 、B 、C、D均为任意时，移位寄存器清零，即QA QB QC QD＝0000。 ②送数：S1S0=11，Cr=1时，让DA DB DC DD =0011，SRSL为任意状态。在CP端输入脉冲后，则数据0011存入寄存器中，（即：QA QB QC QD =DA DB DC DD=0011）。