元器件参数的测量.docVIP

任务2 元器件参数的测量 本任务的要点 ·半导体元器件和集总参数元器件检测 ·万用电桥的实际测量电路及电桥平衡条件 ·的测量原理和使用方法 ·集成电路测试仪的原理和使用方法 ·Q表的工作原理和使用方法 2.1电路基本元件的概述 一、概述 在电子技术中，电子元器件的测量主要包括集总参数元件的测量和晶体管、场效应管等器件的测量。集总参数元件测量是指对电阻、电容、电感、阻抗品质因数Q及损耗因数D的测量。虽然理想元件中只包含大小恒定不变的纯电阻或纯电抗，但实际的集总参数元件并非如此，因此，集总参数元件的测量还包括Q、D的测量；集总参数元件的测量包括伏安法、电桥法和谐振法三种。 1、电子元器件的分类及测量对象 （1）电子元件：主要指电阻器、电容器、电感器。 （2）电子器件：主要指电真空管、集成电路及半导体分立器件（如：二极管、三极管和场效应管等）。 （3）测量对象（内容）： 1）元器件的参数（如；二极管的正向压降、反向击穿电压；三极管的β值、ICM、VCEO参数；场效应管的夹断电压Vp、饱和漏电流IDSS); 2）器件的特性曲线(如:二极管的正向特性曲线、反向特性曲线；三极管的输出特性曲线、输入特性曲线；场效应管的输出特性曲线、转移特性曲线)等。 2、集总参元件的测量方法 电阻器的电阻值R；