低浓度烟尘测量技术简介.pptx

广泛的应用基础光散射方法在烟气、大气颗粒物测量中有非常多的应用锥形微量振荡天平（TEOM）在大气颗粒物中1万多台的应用光散射-24*7*365运行优点易于安装低维护量低浓度下灵敏限制间接测量质量测量颗粒物的间接特性受颗粒大小、比重、形状的影响将液滴作为颗粒物PM需要时使用微量震荡天平实时测量质量测量可溯源至NIST标准质量与频率变化之间有直接的关系锥形原件在它的自然频率下震荡滤膜上颗粒物质量变化时频率增大限制采样时长准确度高PMTEOM-锥形振荡微量天平锥形原件在其自然频率下振荡颗粒物被连续采集在滤膜上累积质量导致频率变小质量与频率变化有直接关系ΔM(g) = 质量变化K0 = 弹性常数 （包括质量转化系数）f0 =初始频率(Hz) f1 = 最终频率(Hz) 锥形原件在大气颗粒物监测中被广泛使用、验证颗粒物CEMS锥形振荡天平+ 光散射 PMCEMS 准确度高 高精度，高准确度兼有精度高 CEMS Monitoring PointsCEMS Monitoring PointsFurnaceSCRESPWetFGD典型测量位置烟尘浓度典型测量位置Product DesignProbe Monitor 探头Sample conditioning样品处理Sample delivery样品输送Measurement测量Mass reference质量参比Probe Controller, Model 3880i 探头控制器，3880i型Flow control流量控制Power regulation电源管理Data management数据处理PM CEMS Product Design 技术前散射 TEOM质量参比 质量流量控制器并加热 平台i-Series. (e.g., MODBUS) 区别 内部质量参比可溯源至NIST标准可远程校准IPTEOM内部质量参比（已获得美国专利）PM CEMS Flow Diagram气路图Wet stack applicationsProbe Monitor探头3-way bypass valve3通旁路阀 Forward light scattering – continuous 前散射-连续TEOM – periodic mass referenceTEOM-阶段性质量参比All measurements adjusted for dilution and purge flowsProbe Controller Model 3880i探头控制器3880i探头控制器气路控制电源管理数据管理模拟量输出6路电压输出: 0–100 mV, 1, 5, 10 V (可选)5% of full-scale over/under range (可选), 6路电流输出: firmware configured 0-20 mA, 4-20 mA开关量输出: 1 路电源故障, 10 digital relays, 100 mA @ 200 VDC开关量输入:16 TTL level user select programmable 串口: RS-232，RS-485 C-Link, MODBUS, streaming以太网: 10Mbs 静态或动态TCP/IPDiagram of PM CEMS3-way bypass valve3通旁路阀Heated Bench Assembly加热室Dilution Assembly稀释组件Nephelometer Assembly光散射组件 Nozzle采样嘴TEOMPump泵MFC LPM MFC Bypass ReturnMFC Dilution24 VDC Power SupplyMotherboard主板Transformer变压器PM CEMS: SpecificationsParameterSpecificationRange量程0–250 mg/m3Accuracy准确度± 20%未进行污染源校正± 10% 进行污染源校正后Detection limit最低检测限0.25 mg/m3 @ 15-分钟系统整合Response time响应时间T9015 minutesMax stack temperature烟气温度200 °C Flue gas烟气湿度? 40%Velocity range流速范围4-20 mls测试数据 #1现场按PS-11 规范线性和多项式修正测试数据#2现场按PS-11 规范线性和多项式修正测试数据-两台颗粒物监测仪平行测量总结Thermo Scientific PM CEMS满足EPA PS-11?不受颗粒物特性变化的影响?避免昂贵的相关校准?高精度和高准确度兼具?等速采样?可靠性?完全自动的QC审核?友好的使用界面?经验与声