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基于光纤传感器微位移测量系统的设计 Y型光纤传感器测量位移 姓名：陶陶 导师：范范 学号：20120511233 前言 位移是工业产品重要的特征参数，过去的位移测量方法是依靠机械接触，可是在现代工业生产中,加工精度和技术指标都越来越高，所以需要一个新型、快速、柔性好、能直接在生产过程中进行非破坏性产品质量检测的测量方法。光纤传感器应运而生,它具有常规检测技术不可比拟的诸多优点：体积小、适应性强、抗电磁干扰、灵敏度高等，因而各种光纤传感器已经广泛应用于工业，军事和医疗等广大领域。 本文内容主要分为三大板块：第一板块介绍了微位移测量的发展；第二板块介绍了基于光纤传感器的位移测量系统的整体设计；第三板块主要是对全文的总结。 微位移测量的发展 微位移测量技术的发展历程主要向两个方向发展：