激光粒度仪光源偏振态对粒度测量的影响.docxVIP

激光粒度仪光源偏振态对粒度测量的影响摘要：本文研究了激光粒度仪光源偏振态对粒度测量的影响，发现受其影响的粒度范围主要在0.3mm~1.5mm之间。在设计仪器时，若选择垂直偏振光源，则仪器在上述范围的粒度测量的准确性和分辨率等性能指标可显著改善，从而获得相对更好的性能。关键词：激光粒度仪，偏振态1 引言颗粒在工业生产中有着非常广泛的应用，也和人们的日常生活密切相关。颗粒粒径是颗粒的最重要参数，颗粒粒径的大小在许多情况下直接影响到相关产品的性能和质量。近年来，随着各种新型颗粒材料的出现，也给激光粒度仪的粒度测量的准确性和分辨率等指标提出了更高的要求。目前，在用激光静态散射法测量颗粒的粒度分布时，通常是将颗粒样本分散在流动的悬浮介质（通常是水）中，然后流过测量窗口，同时用激光垂直照射测量窗口，在测量窗口前面和后面放置光电探测器测量颗粒的散射光信号，然后经过计算机进行反演计算从而得到颗粒样本的粒度分布曲线。而颗粒样本的散射光从水中经过玻璃出射到空气中时，会受到全反射现象的影响，从而导致某些角度的散射光无法被光电探测器探测到，最终可影响到0.1mm~1.0mm的粒度测量[1]。国产激光粒度仪几乎全部都是采用激光束正入射到测量窗口的光路结构，其测试结果不可避免地在0.1mm~1.0mm区间会受到影响。国外公司如英国马尔文公司Mastersizer2000粒度仪采用蓝光斜入射[2]、德国FRIT