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门电路逻辑功能测试与逻辑变换

门电路逻辑功能测试与逻辑变换实验报告实验内容1、使用数字电路实验箱。2 、静态和动态测试与非门74LS00 的逻辑功能。 (动态测量与非门逻辑功能提供的脉冲信号频率 f=1KHz~1MHz )3 、测试与非门74LS00 的基本参数。与非门的基本参数有输出高电平UOH 、输出低电平UOL 、输入高电平电流IIH 、输入低电平电流IIL 、平均传输时间Tp ( 利用 5MHz 的脉冲信号测量 )、开门电平Uon 和关门电平Uoff ( 利用示波器 XY 模式测量 )。4 、逻辑变换:用4 个两输入与非门组成1 个两输入异或门实验原理1、74LS00的原理 引脚图:功能表如图:即有0出1,全1出0;测试门电路逻辑功能的两种方法 静态测试法:给门电路输入端加固定高、低电平,用万用表、发光二极管等测输出电 平 动态测试法:给门电路输入端加一串脉冲信号,用示波器观测输入波形与输出波形的关系与非门74LS00 的基本参数 (1)输出高电平VOH和输出低电平VOLVOH是指与非门一个以上的输入端接低电平或接地时,输出电压的大小。此时门电路处于截止状态。如输出空载,VOH必须大于标准高电平(VSH=2.4V),一般在3.6V左右。当输出端接有拉电流负载时,VOH将降低。VOL是指与非门的所有输人端均接高电平时,输出电压的大小。此时门电路处于导通状态。如输出空载,VOL必须低于标准低电平(VSL=0.4V),约为0.1V左右。接有灌电流负载时,VOL将上升 (2)低电平输入电流IILIIL是指当一个输入端接地,而其他输入端悬空时,输入端流向接地端的电流,又称为输入短路电流。IIL的大小关系到前一级门电路能带动负载的个数。?(3)高电平输入电流IIHIIH是指当一个输入端接高电平,而其他输入端接地时,流过接高电平输入端的电流,又称为交叉漏电流。它主要作为前级门输出为高电平时的拉电流。当IIH太大时,就会因为“拉出”电流太大,而使前级门输出高电平降低。(4)输入开门电平VON和关门电平VOFF?VON是指与非门输出端接额定负载时,使输出处于低电平状态时所允许的最小输入电压。换句话说,为了使与非门处于导通状态,输入电平必须大于VON。?VOFF是指使与非门输出处于高电平状态所允许的最大输人电压。 (5)平均传输延迟时间tp?tp是衡量门电路开关速度的参数,原因是输出电压对输入电压有一定的时间延迟,tp等于导通时间和截止时间的平均值。?由于TTL门电路的延迟时间较小,直接测量时对信号发生器和示波器的性能要求较高,故实验一般采用测量由奇数个与非门组成的环形振荡器的振荡周期T来求得。其工作原理是:假设电路在接通电源后某一瞬间,电路中A点为逻辑“1”,经过三级门的延时后,使A点由原来的逻辑“1”变为逻辑“0”;再经过三级门的延时后,A点电平有重新变为逻辑“1”。电路的其它各点的电平也跟随变化。说明使A点发生一个周期的振荡,必须经过6级门的延迟时间。因此平均传输延迟时间为tp=6/1T实验环境示波器、数字电路试验箱、74LS00芯片(DH74LS00N)、导线若干实验步骤及结果1、静态和动态测试与非门74LS00 的逻辑功能 静态测试法:输入输出HLLH 动态测试法:由波形图可知,输出与输入相反; 2、与非门74LS00 的基本参数的测量VOH4.2450VVOL0.09703VIIH0.27mAIIL0mAVon0.35VVoff0.02293Vtp7.000ns tp测量的波形图4 、逻辑变换:用4 个两输入与非门组成1 个两输入异或门其逻辑表如图:ABQ000011100100实验分析通过此次实验我知道了实验之前查询资料的重要性,因为在实验前看到参数测试便以为只需要简单运用示波器等就可以完成,不需要涉及复杂的方法,等到课堂上和课后查询资料时才发现其中很多细节的东西,若非提前做好功课否则便会无从下手,直接导致实验进程缓慢,也是一个经验吧.

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