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1.1.1900, Abc Abc 欢迎各位来宾 刘孟刚 斯派克北京代表处 应用实验室 工程师 引言：斯派克分析仪器（亚太）有限公司北京代表处 /pages/e/p0305.htm 原子发射光谱的基本概念 2005年6月6日 引言 2005年是等离子发射光谱技术的40周年。在40年前，第一篇等离子发射光谱技术的文章发表，现在，不同的，大量的样品中的 痕量元素的分析上等离子发射光谱技术得到广泛地使用。 等离子发射光谱技术在第一台商品化的仪器出现后，许多的新的技术得到应用。对等离子发射源和信号处理技术的理解使得部件的设计及发射的测量技术的提高。其他的进步包括计算机技术提高信号处理的容量和速度，自动化和精确程度的提高帮助了人们的理解。 尽管等离子发射光谱技术在仪器和软件上的发展迅速，仍然不是一个“傻子”技术。由于ICP-AES是一个十分灵敏的痕量分析技术，严密，细致的工作要求自始至终贯穿于标准样品，空白样品，和样品的制备过程，包括样品引入。仪器必须精确地设置，仪器的参数如波长的选泽，背景的设置必须符合特定样品分析的要求。一些细微之处，如蠕动泵的泵管的松动或者污损，注意或者忽略这些细节，得到的测定结果及其误差就会完全不同。 等离子