第九章光的干涉探究.ppt

* 把相位相同的虚光源S1、S2比作杨氏双缝装置中的两条狭缝，那么，杨氏双缝干涉公式就可以用于菲涅耳双面镜干涉，只是 d≈2rtan? ≈2rsin? ≈2r?, r=S1C=S2C=SC为光源到两镜面交点C的距离，而D=r+l. * · 为了测量一根细的金属丝直径D，按图办法形成空气劈尖，用单色光照射形成等厚干涉条纹，用读数显微镜测出干涉明条纹的间距，就可以算出D。已知 单色光波长为589.3 nm，测量结果是：金属丝与劈尖顶点距离L=28.880 mm，第1条明条纹到第31条明条纹的距离为4.295 mm 解 由题知 直径 例 求 金属丝直径 D D 在半导体元件生产中，为了测定硅片上SiO2薄膜的厚度，将该膜的一端腐蚀成劈尖状，已知SiO2 的折射率n =1.46，用波长? =5893埃的钠光照射后，观察到劈尖上出现9条暗纹，且第9条在劈尖斜坡上端点M处，Si的折射率为3.42。试求SiO2薄膜的厚度。 Si SiO2 O M 解 由暗纹条件 e = (2k+1)? /4n ?= 2ne = (2k+1）? /2 (k=0,1,2…) 知,第9条暗纹对应于k=8,代入上式得 = 1.72(?m) 所以SiO2薄膜的厚度为1.72 ?m。 例 利用空气劈尖的等厚干涉条纹可以检测工 件表面存在的极小的加工纹路， 在经过精密加工的工件表面上放一光学平面玻璃，使其间形成空气劈形膜，用单色光照射玻璃表面，并在显微镜下观察到干涉条纹， a b ?h b a ?h ek-1 ek 如图所示，试根据干涉条纹的弯曲方向，判断工件表面是凹的还是凸的；并证明凹凸深度可用下式求得 ： 例 解:如果工件表面是精确的平面,等厚干涉条纹应该是等距离的平行直条纹，现在观察到的干涉条纹弯向空气膜的左端。因此，可判断工件表面是下凹的，如图所示。由图中相似直角三角形可知: 所以: a b ?h b a ?h ek-1 ek 结论： 条纹向着棱边凸出，则下面玻璃表面凹下去，反之亦然。 a b ek e’k θ ?h 左图是在标准平玻璃上检验工件的平整度的实验结果,工件下边与玻璃接触.请说明工件哪里比较平。 将两块干净的很薄而且平的小片玻璃叠放在一起，看是否可以看到类似右图的纹理。说明一下。 答：下部较平 波长为 680nm的平行光垂直照射到12cm长的两块玻璃上，两块玻璃一边接触，另一边被厚0.048mm的纸片隔开。试问在这12cm内呈现出多少条明条纹？ 解 空气劈尖 n=1 , 所以 又 条纹的条数： 例 二、牛顿环 . S 分束镜M 显微镜 o 牛顿环 装置简图 平凸透镜 平晶 牛顿环：一束单色平行光垂直照射到此装置上时，所呈现的条纹是一组以接触点O为中心的同心圆环。 牛顿环光程差的计算 牛顿环干涉条纹的特征 牛顿环的应用 牛顿环实验装置及光路 装置：在光学平玻璃上放置一曲率 半径很大的平凸透镜。 形成空气 劈尖。 ? = { 明纹 暗纹 Kλ + ( ) k 1 2 λ 2 e相同 相同 在同一级干涉条纹上 等厚干涉 e r R R 1 、从反射光中观测，中心点是暗点还是亮点？(暗点) = k 1 2 , , ... k = 1 2 , , 0 , ... 暗环 明环 3、牛顿环的半径 2、干涉花样：以接触点为中心的同心圆环。 e r R R 讨论： 牛顿环的应用： 可用于检验透镜质量 工 件 标准件 设第k1个暗环的半径为r1，第k2个暗环的半径为r2，则有 可以用来测曲率半径 也可以用来测量光波波长 透 镜 曲 率 半 径 变 小 时 干 涉 条 纹 变 密 4、干涉条纹变化 已知牛顿环装置的平凸透镜与平玻璃间有一小缝隙e0，现用波长为 的单色光垂直照射，平凸透镜的曲率半径为R，求反射光形成的牛顿环的各暗环半径。 e0 e 解 设某暗环的半径为r，则 由反射光干涉减弱的条件，有 即 例 “透光”铜镜 采用激光干涉法拍摄的“透光”镜表面曲率分布图 第六节 迈克耳逊干涉仪 1、实验装置 M 1 M 2 M 2 G G 1 2 半透明 镀银层 单 色 光 源 反 射 镜 1 反射镜 2 补偿玻璃板 （分光计） 迈克尔逊干涉仪 2、干涉条纹 （2）如M1，M2严格垂直，则M1，M2’严格平行， M1，M2’之间形成平行平面膜 等倾干涉条纹。 （1）如M1，M2不严格垂直，则M1，M2’也不严格平行， M1，M2’之间形成空气劈尖 等厚干涉条纹。 M 1 M 2 M 1 M 2 M 1 M 2 等 倾 干 涉 条 纹 M 1 M 2 与 重 合 M 2 M 1 等 厚 干 涉 条 纹 M 2 M 1 M 2 M 2 M 2 M 2 M 1 M 1