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原子力显微镜（Atomic Force Microscope） 周丽绘 原子力显微镜 扫描探针显微镜中，目前应用最多、技术最为成熟的是原子力显微镜。 AFM是用一根对微弱力极其敏感的微悬臂去探测样品，由于微悬臂针尖尖端原子与样品表面原子间存在微弱的相互作用力（包括范德华引力和斥力），随着探针在样品表面的扫描，微悬臂将会发生弯曲形变，该形变信号转化成光电信号并放大后可以测得微悬臂对应于扫描各点的位置变化，从而可以获得样品的表面形貌信息。 原子力显微镜探针检测的作用力——范德华力 AFM工作原理——范德华作用力 AFM的成像模式 接触模式 非接触模式 轻敲模式 （1）接触模式 扫描方式：探针始终与样品接触并简单地在样品表面滑动； 相互作用力：库仑排斥力，微悬臂形变随样品表面性质的变化而变化； 优点：可以形成稳定的、高分辨的图像，可在空气和液体中操作，液体环境下可克服毛细作用的影响提高图像分辨率 ； 缺点：由于针尖在样品表面的移动以及针尖与样品间的黏附力，会使样品产生变形并损坏针尖，因而操作困难并且图像数据中容易产生假象； 适合样品：较硬的材料； 不适合样品：生物材料、低弹性模量材料以及容易移动和变形的软性材料。 （2）非接触模式 为解决接触模式易损坏样品而发展； 扫描方式：探针与样品表面不接触，针尖在样品表面上方5-20 nm处扫描； 相互作用力：范德华