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影响材料发射率因素的实验研究 * 红外测温技术就是基于黑体辐射理论在红外辐射区的应用而发展起来的一种非接触式测温技术 。其优点主要表现在：无需与待测物体相接触；不会改变被测物体的温度场；响应时间快，通常可在几毫秒内测出目标的温度，很适于快速移动的物体的测量；测量范围广，从-170℃到5000℃以上；操作简单，稳定性强，可用于实时监测和自动控制；测量距离广，可远可近，可以适应各种恶劣的测量环境等 。 发射率是指物体在某一温度T时的辐射能量与同温度下黑体的相应辐射量的比值，由此可定义出光谱发射率、半球发射率、方向发射率等 。 测量材料发射率的一些方法：能量法、反射法、量热法、多波长法、傅里叶红外光谱法。 基尔霍夫定律：同温度下，各种不同物体对相同波长的单射辐射出射度与单射吸收之比值都相等，并等于该温度下黑体对同一波长的单射辐射出射度。 黑体：是指在任何温度下能够全部吸收任何入射辐射的物体。 发射率的各种定义： 1、半球发射率 同温度下的辐射体和黑体的辐射出射度之比称为半球发射率，其又可分为半球全发射率和半球光谱发射率两种。 半球全发射率的定义 式中， 是实际物体在温度T下的全辐射出射度， 是黑体在相同温度下的全辐射出射度。 半球光谱发射率的定义为 式中， 是实际物体在温度T时的光谱辐射出射度， 是黑体在相同波长相同温度下的光谱辐射出射度。 2、方向发射率 方向发射率是指在与辐射表面法线成θ角的小立体角内测量的发射率，也叫做角比辐射率或定向发射本领。 θ角为零时的特殊情况叫做法向发射率 ， 也分为全方向发射率和光谱发射率两种。 方向全发射率定义为 式中，L是实际物体在温度T下的辐射亮度， 是黑体在相同温度下的辐射亮度。 方向光谱发射率的定义为 式中， 是实际物体在温度T下的光谱辐射亮度， 是黑体在相同波长相同温度下的辐射亮度。 从以上的各种发射率的定义可知，若实际物体为黑体，则各种发射率均为1，而对于其它实际物体，均以黑体的辐射能作为参考能，由黑体的定义可知，黑体的各种辐射能最大，故任何实际物体，其各种发射率均小于1。 影响发射率的因素 样品因素 样品材料本身是决定发射率最直接的因素，不同材料的发射率相差很大，相同温度下的不同材料其发射率相差可达几十倍，比如抛光的银在100℃下的发射率为0.03，而同温度下的黑漆的发射率为0.03，即使是同一种材料，经过不同处理，其发射率相差也可达几十倍。一般金属材料的发射率是较低的，但它随着物体温度的升高而升高，当表面氧化后，其发射率也数倍的增加。对于非金属材料，其发射率要高一些，一般都大于0.8，但随着温度的升高，其发射率有所下降，其下降的幅度一般远低于金属材料。 灰体 ：在一定波长范围内，其发射率基本不变，可以认为是一个常数。 环境因素 这里所述的环境因素是指从材料表面发射出的辐射进入测量装置之前受到的影响因素。通常由环境因素背景辐射、其它目标源的辐射、大气的吸收以及大气的散射这几种主要的因素。 环境背景辐射：在任何一种空间环境中，在一定时间内会与周围一定范围内的事物形成一个相对稳定的辐射环境。这种辐射会与待测辐射一同进入探测器中，这是无法避免的。通常用环境温度来表征这种背景辐射。 其它目标源的辐射：进入探测器的辐射有时还包括测量环境中其它目标源辐射出的杂散光。在有些测量环境中这种影响有时是不能忽略的。比如在钢铁生产车间测量某一物体的辐射，需要考虑其它热的钢铁的辐射，测量炉壁的辐射时需要考虑炉内的辐射，在这些环境下，一些与探测目标源无关的强辐射可能会进入到探测器中，有时这种杂散辐射很大，为了消除这类影响，通常在探测系统的光学系统中加入孔径光阑、窄带滤光片、目镜等光学器件，从而大大抑制杂散辐射进入探测器。 大气的吸收：大量研究表明，红外辐射在大气传输中会受到大气的选择吸收。分子的带吸收是红外辐射衰减的重要原因。因为大气中的某些分子具有与红外光谱区域相应的振-转动共振频率。同时还有转动光谱带，因而能够对红外辐射产生相应的吸收。大气中这些主要的吸收分子是水蒸气(H2O)、二氧化碳(CO2)、甲烷(CH4)、一氧化碳(CO)、一氧化二氮(N2O)、臭氧(O3)等。其中水蒸气和二氧化碳的影响最大。因为它们在大气中的浓度都相当高，并且在红外区它们都有较强的吸收带。 大气的散射：大气散射是由于大气的不均匀性，其散射过程可看成散射元粒子与辐射光子之间的碰撞。大气中的悬浮粒子、气体分子雾霾颗粒等都是大气散射元。在大气吸收很低的大气窗口区，相对来讲，大气的散射就是红外辐射衰减的主要原因。 测量仪器因素：