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实验一 集成门电路 一、实验目的 1．学习测试“与非”门电路的电压传输特性和逻辑功能。 2．了解“与非”门组成的其它逻辑门。 二、实验原理 “与非”门是门电路中应用较多的一种，它的逻辑功能是：全“1”出“0”，有“0”出“1”。即只有当全部输入端都接高电平“1”时，输出端才是低电平“0”，否则，输出端为高电平“1”。图1－1是一个具有3个输入端的“与非”门逻辑图。根据手册规定，“与非”门的高低电平和其他电参数有一定的规范值，（见表1－1）。若不符合，则表明该“与非”门不能使用。 图1－1 图1－2 检验“与非”门应按表1－1规定的测试条件进行。在实际使用时，有时可用万用表对“与非”门进行简易检验。以TTL“与非”门为例，当接通5V直流电源后，先让各个输入端接高电平，用万用表测量其输出端的电压。然后把各个输入端依次接地，测量输出端的电压，根据测量数据是否符合规范值则可判别这个“与非”门好否。 集成“与非”门的电压传输特性，指的是“与非”门输出电压u0随输入电压ui变化的关系曲线，如图1－2所示。图中A点相应的输入电压称为关门电平Uoff，B点相应的输入电压称为开门电平UON。 传输特性的测量方法很多，最简单的方法是把直流电压通过电位器分压加在与非门的输入端，如图