c8000维护养c8000维护保养第 4 单元.docVIP

概述 在尝试操作你的系统前，你可能需要熟悉一下系统性能特征，物料通过量和实际容量，规格，预计对样品，温度，废弃物和清除的要求。 如果你的实验室选购使用了该配件，你可能也需要熟悉ARCHITECT ARM TM（自动重新组成模式）配件的规格和要求。 性能特征和规格的主题包括： 性能特征，第3页 描述ARCHITECT ?系统的操作方法，测定技术，和吸移容量。 规格和要求，第5页 描述ARCHITECT ?系统的规格和系统容量。 ARM规格和要求，第39页 描述ARCHITECT ARM TM配件的规格和要求。 备注：关于检验信息，参见你的试剂制造商文件，如试剂包说明书或试剂使用单。 备 注 性能特征 性能特征包括系统的操作方法，测定技术，和吸移容量。 性能特征的主题包括： c系统性能特征，第3页 i系统性能特征，第3页 c系统性能特征 c系统性能特征典型列于下表。 表4.1： c系统性能特征 操作方法 随机和连续访问，优先装载 测定技术： 光度计 电位计 终点和比率 ICT（集成碎片技术）离子选择电疗法。 吸移容量 凝结测定的机器精确度 i系统性能特征 i系统性能特征典型列于下表。 表4.2： i系统性能特征 操作方法 随机和连续访问，优先装载 测定技术 CMIA（化学荧光微颗粒免疫检验） 排放计量 CMIA光学配件测量从反应试管排放的化学荧光抱歉产生的数据与测定的排放质量相关。 吸移容量 凝结测定的机器精确度 备 注 规格和要求 系统显示的规格和要求于ARCHITECT ?系统的正确安装和操作相关。 规格和要求主题包括： 总体规格，第5页 系统容量，第8页 物理规格，第12页 重量和压力规格，第13页 系统清除，第17页 电源规格和要求，第20页 电的安全参数，第23页 光的规格（c系统），第23页 水和液体废弃物规格和要求，第23页 外部废弃物泵规格和要求，第25页 环境规格和要求，第27页 计算机和界面规格，第28页 打印机规格和要求，第29页 条形码要求，第30页 总体规格 总体规格包括每个处理模数的通过量，能在ARCHITECT ?系统上使用的样品类型，系统主要的构件，和操作界面构件的相关信息。 总体规格主题包括： ARCHITECT ?系统规格，第6页 C系统处理模数规格，第7页 i系统处理模数规格，第7页 ARCHITECT ?系统规格 ARCHITECT ?系统的总体规格列于下表。 表4.3： 总体规格 主要构件 系统控制中心，样品处理器，和处理模数 操作界面 系统控制中心接触屏幕监控器，键盘，和定点设备；处理模数键区；样品处理器键区；光学条形码扫描仪 通过量，独立c 8000 TM 仅适用于光度计检验 仅适用于ICT（集成碎片技术）检验 光度计和ICT检验混合 单个检验时间 冷启动的预热时间 达到每小时800个检测 达到每小时600个检测 达到每小时1200个检测 4－10分钟 大约30分钟 通过量，独立I 2000 ? 总体 第一个结果时间 达到每小时200个检测 29分钟（没有预处理） 36到43分钟（预处理） 通过量，独立I 2000R TM 总体 第一个结果时间 达到每小时200个检测 29分钟（没有预处理） 36到43分钟（预处理） 18分钟（STAT协议） 样品类型 血清，血浆，或其他体液。需要更多信息，参见试剂制造商具体检验文件（如试剂包说明书或试剂使用单）。 要求的样品体积 参见试剂制造商具体检验文件（如试剂包说明书或试剂使用单）。 样品探针残留量性能 小于0.1PPM 质量控制 Levey－Jennings和Westgard ?规则 在线数据存储 硬盘驱动器 贮存的数据保护 光学UPS（供应非中断电源） c系统处理模数规格 c系统的总体规格列于下表。 表4.4：C系统处理模数规格 条形码阅读器（4） 试剂供应中心（2），样品传送容器，和RSH 分配体积： 样品： － 光度计 － ICT 试剂 2.0－35.0微升，每个检测在0.1微升的增加量 每个样品15微升 2.0－345微升，每个检测在1微升的增加量 ICT参照溶液 每个检测1.65毫升 碱性洗涤溶液 每个检测20微升 酸性洗涤溶液 每个检测20微升 温度： 在线试剂冷藏室 反应混合 样品传送容器 2至10摄氏度 36.7至37.3摄氏度 在室温下至少10摄氏度 i系统处理模数规格 i系统的总体规格列于下表。 表4.5： i系统