19thTOFD与超声相控阵对缺陷的定性与定量的对比概念.ppt

HICC损伤 * * 边缘效应 在判读所采集的数据时不是所有的缺陷都能用肉眼看到。 处于临界状态的缺陷可能会漏掉。 需要增加判读方面的相关经验。 * * TOFD的不良响应 裂纹尖端很难定位。 多个面的裂纹产生较低的衍射得到的图形对比度差。此类缺陷容易遗漏。 * * 位于扫查表面的缺陷 TOFD很难发现扫查表面的裂纹。 * * 相控阵比较结果 图象显示的是一个位于扫查面的表面裂纹。 * * 相控阵的不良响应 增益比较低时，超声可能会漏检气孔等缺陷。然而，可以注意到在3mm直径横孔上校准TCG＋10dB情况下，足够发现气孔。 * * 焊趾响应 * * 滤掉根部几何反射信号 * * 对比定量结果 * * 深度 长期以来在工业领域已经对TOFD的检测精度进行验证，并得到广泛的认可。 然而相控阵尚未获得可供参考的工业标准。 自身高度是通过当量法获得的。 定量误差尚未得到破坏性检测的确认。 * @Lavender Intermational NDT Consultancy Services Ltd * 长度 TOFD在缺陷长度方向的定量精度比高度方向的定量精度低。 对两种超声检测方法的结果进行对比。 * * 比较结果 * * 比较性结果 相控阵检测中达到饱和的信号通常都是未熔合缺陷。 即便是饱和信号，相控阵定量精度也与TOFD非常接近。 * * 总结 * * 检测能力 TOFD在上下表面存在盲区，但在盲区以外有极高的缺陷检测能力。 相控阵基于脉冲回波，非常依赖于声束方向。 使用电子线性扫查和从焊缝两侧进行扇形扫查，可以达到很好的缺陷检测能力 。 * * 定性 有经验的操作员可以对大多数TOFD发现的缺陷进行定性。 相控阵通过对检波A扫描数据进行细致的分析，可以更精确地进行缺陷定性。 * * 定量 根据比较结果发现相控阵定量精度非常高。 使用TOFD作为深度测量基准，相控阵表现出比手动超声更高的定量精度。 必须注意到在所有对比实验中，相控阵仅采用16个激活晶片，所有缺陷都位于远场区（非聚焦声束）。 * * 组合应用 目前所进行的实验结果显示了TOFD和相控阵技术相结合可以获得最佳的检测，定性和定量能力。 许多仪器都支持单独和同时进行这两种检测方法。 * * TOFD和PA * * @Lavender Intermational NDT Consultancy Services Ltd @Lavender Intermational NDT Consultancy Services Ltd @Lavender Intermational NDT Consultancy Services Ltd @Lavender Intermational NDT Consultancy Services Ltd @Lavender Intermational NDT Consultancy Services Ltd @Lavender Intermational NDT Consultancy Services Ltd @Lavender Intermational NDT Consultancy Services Ltd @Lavender Intermational NDT Consultancy Services Ltd @Lavender Intermational NDT Consultancy Services Ltd @Lavender Intermational NDT Consultancy Services Ltd @Lavender Intermational NDT Consultancy Services Ltd @Lavender Intermational NDT Consultancy Services Ltd @Lavender Intermational NDT Consultancy Services Ltd TOFD与超声相控阵对缺陷的定性与定量的对比 * * 介绍 该研究的目的主要是向TOFD和/或相控阵的所有用户和潜在用户提供参考信息。 检测结果并非滴水不漏，连续采集数据中的缺陷将被分类将用于结果对比。 * * 对比 比较如下项目： 缺陷检测 缺陷定性 缺陷定量 * * 衍射时差 BS 7706：1993（ASME 第五卷第四章附件L） DDENV 583-6：2000 60o楔块 5MHz 6mm直径 主波束聚焦在平板的15mm深度 100MHz的数字化率 0.5mm的编码数据采集 * * 超声相控阵 当前尚没有标准 基于BS EN 1714 5MHz 64晶片阵列 激发16个晶片 使用55o楔块 两组聚焦法则：45o到70o（1o步进）的扇形扫查和一个60o的电子线性扫查 10