4、盖革-米勒计数管解析.docVIP

东北师范大学远程与继续教育学院 （网络教育） 实 验 报 告 学习中心： 通榆县职业教育中心奥鹏学习中心 专业名称： 物理学 课程名称： 近代物理实验 * 学 号： 201106988253 姓 名： 李大新 2 0 1 4 年 8 月 17日 报告正文 课程名称：近代物理实验 实验日期： 2014 年8 月17 日 编号NO： 4 开始时间： 14时 40分； 结束时间：15 时50 分； 实验题目：盖革－弥勒计数及核衰变的统计规律2、G-M （1） 坪曲线。在强度不变的放射源照射下,G-M管的计数率n 随外加电压变化的曲线如图1所示。 由于该曲线存在一段随外加电压变化而变化较小的区间即坪区，因此把它叫做坪曲线。坪曲线的主要参数有起始电压、坪长和坪斜。起始电压即计数管开始放电时的外加电压，图中用表示。坪长即坪区的长度，图中为之差。坪斜即坪区的坡度，通常用坪区内电压每增加l00时计数率增长的百分比表示： [单位:%/(l00V)], (1)式中表示坪斜，，分别对应于和时的计数率。 坪曲线是衡量G-M管性能的重要指标，在使用前必须进行测量，以鉴别计数管的质量并确定工作电压。一般，工作电压选在离坪区起始点1／3～1／2坪长处。 坪曲线的形状可作如下解释：外加电压低于时，加速电场太弱不足以引起雪崩放电，不能形成脉冲，因此计数管没有计数；电压高于,加速电场可使入射的部分粒子产生雪崩，此时虽有计数但计数率较小；随着电压升高，计数率迅速增大；电压超过后，计数率随电压变化很小，这是因为此时无论入射粒子在管内何处发生初电离，加速电场均可使其产生雪崩放电，外加电压的升高只是使脉冲幅度增大而不影响脉冲的个数，所以计数率几乎不变，但因猝灭不完全和负离子的形成造成的乱真放电会随电压的升高而增多，因而产生坪斜。当电压继续升高使猝灭气体失去猝灭作用时，一个粒子入射可引起多次雪崩,是计数率急剧增加，即进入连续放电区，这时管内的猝灭气体会被大量耗损，使管子寿命缩短。使用时应尽量避免出现此种情况，当发现计数率明显增大时，应立即降低高压。 （2）死时间、恢复时间和分辨时间：如前所述，入射粒子进入G-M管引起雪崩放电后在阳极周围形成的正离子鞘削弱了阳极附近的电场，这时再有粒子进入也不能引起放电，即没有脉冲输出，直到正离子鞘移出强场区，场强恢复到刚刚可以重新引起放电的这段时间称为死时间。从这之后到正离子到达阴极的时间称为恢复时间。在恢复时间内，粒子进入计数管所产生的脉冲幅度低于正常值。 实际上更有意义的是系统的分辨时间，因为任何电子线路总有一定的触发阈，脉冲幅度必须超过触发阈时才能触动记录电路。因此，从第一个脉冲开始到第二个脉冲的幅度恢复到触发阈的这段时间内，进入计数管的粒子均无法记录下来，这段时间称为系统的分辨时间。显然， 。三个时间的关系如图 2所示。 为了真实地测量入射粒子的强度，分辨时间越小越好。然而无论如何，分辨时间总是存在的。若相继进入计数管的两个粒子的时间间隔小于分辨时间，第二个粒子就会漏记，实测计数率将低于实际计数率，为此，需对测量结果作漏计数校正。设为单位时间内进入G-M管的平均粒子数（真计数率），为计数系统实测的平均计数率，在分辨时间不变时，单位时间内的总分辨时间为，在时间内进入计数器的粒子数为，因此，计数率的损失为 所以, (2) 测分辨时间可用示波器测量也可用双源法测量。双源法是利用两个独立源I 和II，在完全相同的条件下，分别测量各个源的计数率,及源 I 、 II同时存在的计数率。若忽略本底，则由式（2）得其真计数率分别为 , , 。 由于实验条件完全相同，则，即 。 若，可将上式按展开，略去及高次项，整理后即得 (3) 式中分别是源 I 和II的真计数率，是两源同时存在的真实合计数率。 （3） 计数管的 。计数管的探测效率是指一个粒子进入计数管后引起脉冲输出的概率。对于G-M计数管，如果工作电压合适并加有漏计数修正，则只要辐射粒子能引起电离就能有脉冲输出，因此，探测效率就是辐射粒子引起初电离的概率。所以，G-M计数管对带电粒子的探测效率几乎是100％。对于光子，