可测试性设计与ATPG概要.pptVIP

* Fault Model DFT ATPG ATE *  DFT→ATPG  在DFT工具完成其硬件结构设计部分工作后，需要将设计转交给ATPG 工具（如Synopsys的TetraMax ）自动生成测试向量。需要转交的包括两个文件: 网表文件：提供设计的具体描述（包括了DFT电路） 测试协议文件，告诉ATPG 工具所采用的测试协议：包括设计的输入、输出、时钟、测试波形等信息 ATPG 工具自动生成测试向量文件（STIL格式） * 故障覆盖率(Fault Coverage) 通常芯片测试方案并不能测出芯片上所有可能的故障 一些故障本身就是没法检测的 极少数的故障非常难检测，以至要检测它们的代价过高从而被放弃 故障覆盖率：测试方案可以测到的故障数除以故障总数量 实现尽可能高的故障覆盖率是测试的最终目标，故障覆盖率自然成为了评价测试方案优劣的最重要的指标 * Fault Model DFT ATPG ATE * From ATPG to ATE * 自动测试仪ATE（1） 自动测试仪的基本构成 一组带有一定内存（用于存储测试向量）的测试通道 一系列时钟发生器 一系列电源 这些资源通过支撑着芯片的插口(socket)装载板(loadboard)加到芯片上 * 自动测试仪ATE（2） 自动测试仪可能还有的其他一些资源 用以进行算法内存