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基于CCD的物体表面温度测量 姓名： 学号： 摘要：文章介绍了一种利用CCD传感器测量高温物体表面温度场分布的方法，基于温度与物体表面辐射能及CCD信号强度之间的关系，使用黑体炉对CCD信号强度和物体表面温度值进行标定，这样CCD摄像机采集到的图像的亮度值分布就能够转化为物体表面的温度值分布，利用图像处理技术可以获得物体表面的温度分布。 关键词：CCD，温度场测量，辐射能，图像处理 引言： 任何物体表面都会向外界辐射能量，其发出的辐射能与绝对温度紧密相关，因此可以通过测量辐射能来获得物体表面的温度，电荷耦合器件CCD具有灵敏度高、噪声小、动态范围大、精度高和光谱响应宽等优点，从而使CCD应用已成为现代光电技术和光学测量领域最有发展前途的技术手段之一。利用CCD作为非接触式的图像传感器，可以有效的将物体表面发出的辐射能转化成像元阵列的信号强度，信号强度和辐射能成一定的关系，从而获得物体表面的温度信息，结合CCD像机图像处理技术来进行温度测量。本文从建立温度与辐射能的关系入手，设计了测温系统，获得物体表面图像，并利用MATLAB得到了物体表面温度分布图。 测量原理 辐射测温原理主要是利用普朗克定理，在不考虑发射率的情况下物体的光谱辐射出度为： (1-1) 式中：T为物体的热力学温度K,h1为普朗克第一常数，其值为3.743×108w.um4/m2。h2为普朗克第二常数，其值为1.4388×104um.k。 物体表面发出的辐射能通过光学系统投影到CCD的表面，CCD接受到的辐射照度K和物体表面辐射亮度L(T)成一定的函数关系，在透镜的焦距，光圈，测量距离等条件确定时，我们有CCD接受到的辐射照度K和物体表面辐射亮度L(T)成正比: K=(T) (1-2) 又由于物体表面辐射亮度L(T)和物体的辐射力的关系为： L(T)= (1-3) 物体的光谱辐射出度与物体的辐射力的关系为： (1-4) CCD的光敏单元的输出信号Y与所接受到入射辐射能量即CCD表面的辐射照度K成一定关系（CCD为积分器件）: Y= (1-5) 其中代表CCD的光电转换系数。这样： (1-6) 为物体表面发射率，可以通过实验修正，为与系统相关的常数，而其他的参数可以通过黑体炉标定获得。根据(1-6)式我们可以看出CCD的输出信号与温度有一一对应的关系。 黑体炉标定 上述推导表明采样信号强度和物体表面温度有明确的关系，是我们实验的理论基础，实际测量过程中，如果要通过CCD获得物体表面的温度值，首先必须建立起温度和采样值的数量关系，而我们推导出来的关系式非常的复杂，所以利用黑体炉对CCD信号和温度值进行标定，把获得的数据作为后期亮度图像处理的依据。我们在黑体炉中对铸铁（假设铸铁表面的发射率为1）进行加热，炉温由850℃到1200℃，每隔25℃采样一次。认为黑体炉的热电偶示数为铸铁表面的真实温度，CCD相机采集到信号强度就为对应温度的采样值。这样CCD的亮度采样值和铸铁表面温度值就建立起数量上的关系，黑体炉标定的值是多个离散的点，对实验得到的离散数据进行插值拟合，拟合后的曲线如下： 图1黑体炉标定曲线 图中横坐标为温度，纵坐标为采样亮度，小圈为采样点。CCD的分辨率为12BIT,温度由850℃变化到1200℃，亮度由250变化到2750，1个温度对应7个亮度级别，精度是相当高的，图中所示温度低于850℃是曲线变化较为缓慢，温度大于1150℃曲线接近于一条直线，而温度在850℃至1150℃之间时变化的趋势十分的明显，接近于线形变化，测温的范围最好在850℃至1150℃。 利用标定曲线获得温度分布 图4是利用CCD和自行编写的采集卡程序采集到的连铸二冷区铸坯表面原始图像。在CCD采集信号的过程中，不可避免的要受到各种干扰的影响，所以我们采集到的图像首先要进行降噪处理。图像降噪就是图像平滑，其主要方法有领域平均法，低通滤波法，多图像平均法等，我们首先使用的是领域平均法即在3*3的小区域中求亮度平均值来代替整个区域每个点的亮度值，然后使用多图像平均法，利用多幅领域平均法处理后的图像叠加起来，取平均值来到达图像平滑的效果。实践表明这样的方法可以获得较好的平滑效果，使图像更接近于真实[5]。