上海电子产品热设计、热分析及热测试.docVIP

各有关单位： 随着微电子技术及组装技术的发展，现代电子设备正日益成为由高密度组装、微组装所形成的高度集成系统。电子设备日益提高的热流密度，使设计人员在产品的结构设计阶段必将面临热控制带来的严酷挑战。热设计处理不当是导致现代电子产品失效的重要原因，电子元器件的寿命与其工作温度具有直接的关系，也正是器件与PCB中热循环与温度梯度产生热应力与热变形最终导致疲劳失效。而传统的经验设计加样机热测试的方法已经不适应现代电子设备的快速研制、优化设计的新需要。因此，学习和了解目前最新的电子设备热设计及热分析方法，对于提高电子设备的热可靠性具有重要的实用价值。所以，中国电子产品质量协会决定分期组织召开“电子产品热设计、热分析及热测试讲座”。现具体事宜通知如下： 一、主办单位：中国电子产品质量协会 协办单位：北京中企远大文化传播中心 时间、地点：2012年3月22-23日（21日全天报到） 上海 （详细地点开班前见报到通知） 参加对象：从事电子电气设备结构设计、现场工艺、工艺管理等工作的产品设计师、工艺师及工程师、设计人员、?研究所、公司热设计人员、结构可靠性设计人员。企业中高层技术管理人员（如技术部经理、车间主任或厂长等）。 讲课内容： （1）、热设计定义、热设计内容、传热方法 1 热设计定义 2 热设计内容 3 传热方法简介 （2）、各种元器件典型的冷却方法 1 哪