JET-300_Win_中文操作手冊.doc

中文視窗版 使 用 說 明 書 目 錄 序言 5 測試的方法與原理 6 2.1 隔離(Guarding)的原理 6 2.2 電阻的量測方法 6 2.2.1 定電流測量法 6 2.2.2 定電壓測量 7 2.2.3 相位測量法 7 2.3 電容測試 9 2.3.1 交流定電壓源量測 9 2.3.2 直流定電流量測法 9 2.3.3 相位量測法 9 2.3.4 電容極性量測 10 電感器的測試方法 11 2.4.1 相位量測法 11 2.4.2 變壓器次級圈繞錯方向測試 11 二極體的測試方法 11 2.5.1 二極體順向電壓量測法 11 2.5.2 二極體並聯量測技術 12 電晶體的三端點測量方法 13 電晶體測試方法 13 2.6.2 場效電晶體(FET)量測 14 2.6.3 光耦合晶體測試方法 15 電壓測試的方法 16 低壓測試 16 高壓測試 16 2.8 積體電路的測試(IC Clamping Diode) 17 2.9 電源穩壓IC之輸出電壓量測方法 19 2.10 短/斷路測試的方法 22 2.10.1 學習短路表 22 2.10.2 短/斷路測試 22 2.11 跳線測試(Jumper Test) 23 2.12 HP TestJet技術(選購Option) 23 2.13 IC SCAN技術