_序言 材料分析方法SEM TEM.ppt

扫描电子显微镜 ② SEM 利用电子束在样品表面扫描激发出来代表样品表面特征的信号成像的。 可同时进行表面形貌和成分分析。 分辨率1nm。 举例（SEM） 举例（SEM） /beautiful-nano-scanning-electron-microscope-pictures-496.html 硅纳米复合材料 举例（SEM） 钢铁中杂质物的分析 ③EPMA 利用聚焦得很细的电子束打在样品的微观区域，激发出样品该区域的特征X射线，分析其X射线的波长和强度来确定样品微观区域的化学成分。 与电镜联合可同时进行形貌和成分分析。 EPMA-1600 日本岛津公司 1 第一章 X射线物理学基础 2 第二章 X射线的衍射方向 3 第三章 X射线的衍射强度 4 第四章 多晶体分析方法 5 第五章 物相分析及点阵参数精确测定 6 第六章 电子光学基础 7 第七章 透射电子显微分析 8 第八章 电子衍射 9 第九章 电子显微衬度像 10 第十章 扫描电子显微镜 11 第十一章 俄歇电子能谱 12 第十二章 扫描隧道显微镜 主要内容 13 第十三章 电子显微技术的新进展及试验方法选择 3、教材及主要参考书 教材：《材料分析方法》，周玉主编，机械工业出版社 主要参考书： 1、《材料现代研究方法》，左演生、陈文哲、梁伟，北京工业出版社 2、《晶体X射线衍射学基础》李树棠编，冶金工业出版社 3、《金属电子显微分析》，谈育煦，机械工业出版社 4、《X射线衍射与电子显微分析》.漆璿主编，上海交通大学出版社 5、《材料现代分析测试方法》，常铁军，祁欣等，哈尔滨工业大学 6、《材料分析方法》，杜希文，原续波，天津大学 4、本门课程的考核 考查：以上课、回答问题、作业完成和出勤等情况为依据进行考查，平时成绩占30%，考查合格者方能参加考试。 考试：闭卷笔试，百分制记分。平时成绩和结课考试共同构成本课程的成绩评定依据。 在成绩评定中所占比例为：30%平时成绩 + 70%期末考试。 一种材料或一种物质其性能取决于它本身的二个属性。一个是它的化学成分，如铁与铜、金刚石（C）、闪锌矿（ZnS）。另一个是它内部的组织结构。所谓内部的组织结构，对单晶体来说就是它的晶体结构，即晶体中原子的排列。二种晶体若其成分相同而结构不同，性能是完全不同的。如金刚石和石墨，二者的成分完全相同但结构不同。（展示金刚石与石墨的结构图片）。一个是架状结构，一个是层状结构，因此，它们的性能是完全不同的。 * ? 富勒烯的应用 众所周知，碳元素有两种同素异形体——金刚石，石墨。1970年，日本科学家小泽预言，自然界中碳元素还应该有第三种同素异形体存在。1985年美国Rice大学的Kroto等人在激光汽化石墨实验中首次发现含有60个碳原子的原子簇，命名为C60；含有70个碳原子的原子簇也已被发现，命名为C70。C60及C70均具有笼形结构，在物理及化学性质上可看作三维的芳香化合物，分子立体构型具有D5h点群对称性。C60中20个正六边形和12个正五边形构成圆球形结构，共有60个顶点，分别由60个碳原子所占有，经证实它们属于碳的第三种同素异形体，命名为富勒烯(Fullerene)。以后又相继发现了C44、C50、C76、C80、C84、C90、C94、C120、C180、C540等纯碳组成的分子，它们均属于富勒烯家族，其中C60的丰度约为50％。由于特殊的结构和性质，C60在超导、磁性、光学、催化、材料及生物等方面表现出优异的性能，得到广泛的应用。特别是1990年以来Kratschmer和Huffman等人制备出克量级的C60，使C60的应用研究更加全面、活跃。 超导体 C60分子本身是不导电的绝缘体，但当碱金属嵌入C60分子之间的空隙后，C60与碱金属的系列化合物将转变为超导体，如K3C60即为超导体，且具有很高的超导临界温度。与氧化物超导体比较，C60系列超导体具有完美的三维超导性，电流密度大，稳定性高，易于展成线材等优点，是一类极具价值的新型超导材料。 有机软铁磁体 与超导性一样，铁磁性是物质世界的另一种奇特性质。Allemand等人在C60的甲苯溶液中加入过量的强供电子有机物四(二甲氨基)乙烯(TDAE)，得到了C60(TDAE)0.86的黑色微晶沉淀，经磁性研究后表明是一种不含金属的软铁磁性材料。居里温度为16.1 K，高于迄今报道的其他有机分子铁磁体的居里温度。由于有机铁磁体在磁性记忆材料中有重要应用价值，因此研究和开发C60有机铁磁体，特别是以廉价的碳材料制成磁铁替代价格昂贵的金属憋铁具有非常重要的意义。 光学材料 由于C60分子中存在的三维高度非定域电子共轭结构使得它具有良好的光学及非线性光学性能。如它的光学限制性在实际应用中可作为光学限幅器。C60还具有较大的非线性光