UHF频段FID近场天线的阻抗测量方法[图].docVIP

UHF频段RFID近场天线的阻抗测量方法[图] 引言 超高频（UHF）频段的射频识别（RFID）近场读写器天线（NFRA）由于其在单品识别方面应用的潜力[1]，对环境的不敏感性和比HF 天线更高的读写速度，正引起多方面的关注。UHF 频段的 NFRA 通常采用带有平衡端口的电大环结构来实现。 对于 NFRA 来说，良好的匹配网络是至关重要的[2,3]。通常UHF 频段的NFRA 天线都被设计成安装在金属腔体里来减小环境对天线性能的影响，如图1 所示。但是由于金属腔体的存在，天线的阻抗会随频率的变化而剧烈变化，这将导致在仿真软件中得到的阻抗值不够精确，在此不精确的阻抗基础上很难设计出性能良好的匹配网络。通常，我们将NFRA 的设计分成3 个步骤： 1． 首先是环天线的设计和加工； 2． 第二步是环天线阻抗的测量； 3． 第三部是匹配网络的设计以及匹配网络和环天线的联合仿真在这篇文章中，我们针对步骤2 设计了一种联合使用同轴线和de-embedding 技术来得出天线精确阻抗的方法。在这种方法得到的阻抗的基础上，来完成匹配网络和NFRA 天线的设计制作。 图 1 UHF RFID 近场读写器天线的结构 1 测量方法 一般的，带有平衡端口的天线，尤其是像图2 中的电小天线，都需要使用巴伦[4]，巴伦的作用是完成平衡端口到非平衡端口的转换。通常会在同轴线和天线结构之间使用一个1:1的巴