光电二极管特性测试及其变换电路.docVIP

光电二极管特性测试及其变换电路 实验目的 实验内容 实验仪器 实验原理 ,加之制作硅器件采用的平面工艺使其管芯结构很容易精确控制，因此,硅光电二极管得到了广泛应用。 光电二极管的结构和普通二极管相似，只是它的PN结装在管壳顶部，光线通过透镜制成的窗口，可以集中照射在PN结上，图1（a）是其结构示意图。光敏二极管在电路中通常处于反向偏置状态，如图1（b）所示。 （a）结构示意图 （b）基本电路 图1 光电二极管结构图 PN结加反向电压时，反向电流的大小取决于P区和N区中少数载流子的浓度，无光照时P区中少数载流子(电子)和N区中的少数载流子(空穴)都很少，因此反向电流很小。但是当光照射PN结时，只要光子能量hv大于材料的禁带宽度，就会在PN结及其附近产生光生电子—空穴对，从而使P区和N区少数载流子浓度大大增加。这些载流子的数目，对于多数载流子影响不大，但对P区和N区的少数载流子来说，则会使少数载流子的浓度大大提高，在反向电压（P区接负，N区接正）作用下，反向饱和漏电流大大增加，形成光电流，该光电流随入射光照度的变化而相应变化。光电流通过负载RL时，在电阻两端将得到随人射光变化的电压信号如果入射光的照度改变，光生电子—空穴对的浓度将相应变动，通过外电路的光电流强度也会随之变动，光敏二极管就把光信号转换成了电信号。 注意事项 1、实验之前，请仔细阅读光电探测综合实验仪说明，弄清实验箱各部分的功能及拨位开关的意义； 2、当电压表和电流表显示为“1＿”是说明超过量程，应更换为合适量程； 3、连线之前保证电源关闭。 4、实验过程中，请勿同时拨开两种或两种以上的光源开关，这样会造成实验所测试的数据不准确。 实验步骤 图2 光电二极管暗电流测试电路 （1）组装好光通路组件，将照度计与照度计探头输出正负极对应相连（红为正极，黑为负极），将光源驱动模块上J2与光通路组件光源接口使用彩排数据线相连。将三掷开关S2拨到“静态”。 （3）将精密直流稳压电源的0-15V输出的正负极与电压表头的输入对应相连，打开电源，将直流电流调到15V，关闭电源，拆除导线。 （4）“光照度调节”调到最小，连接好光照度计，打开照度计，此时照度计的读数应为0。 （注意：在下面的实验操作中请不要动电源调节电位器，以保证直流电压输出电压不变） （5）按图2所示的电路连接电路图，负载RL选择RL=20MΩ。 （6）打开电源开关，等电压表读数稳定后测得负载电阻RL上的压降V暗则暗电流L暗=V暗/RL。 图3 光电二极管光电流测试电路 （1）组装好光通路组件，将照度计与照度计探头输出正负极对应相连（红为正极，黑为负极），将光源驱动模块上J2与光通路组件光源接口使用彩排数据线相连。将三掷开关S2拨到“静态”。 （3）按图2-3连接电路图，E选择0-15V直流电压，RL取RL=1K欧。 （4）打开电源，缓慢调节光照度调节电位器，直到光照为300lx（约为环境光照），缓慢调节直流电压直至电压表显示为6V，此时电流表的读数，即为光电二极管在偏压6V，光照300lx时的光电流。 （5）实验完毕，将光照度调至最小，直流电压调至最小，关闭电源，拆除所有连线。 光电二极管光照特性 实验装置原理框图如图3所示。 （1）组装好光通路组件，将照度计与照度计探头输出正负极对应相连（红为正极，黑为负极），将光源驱动模块上J2与光通路组件光源接口使用彩排数据线相连。将三掷开关S2拨到“静态”。 （3）按图2-3所示的电路连接电路图，E选择0-15V直流电压，负载RL选择RL=1K欧。 （4）将“光照度调节”旋钮逆时针调至最小值。打开电源，调节直流电压电位器，直到显示值为8V左右。顺时针调节光照度调节旋钮，增大光照度值，分别记下不同照度下对应的光生电流值，填入下表。若电流表或照度计显示为“1＿”时说明超出量程，应改为合适的量程再测试。 表1光电二极管光照特性测量 光照度（Lx） 0 100 200 300 400 500 600 光生电流（μA） （5）将“光照度调节”旋钮逆时针调节到最小值位置后关闭电源。 （6）将以上连接的电路中改为如下图4连接（即0偏压） （7）打开电源，顺时针调节光照度旋钮，增大光照度值，分别记下不同照度下对应的光生电流值，填入下表。若电流表或照度计显示为“1＿”时说明超出量程，应改为合适的量程再测试。 图4 光电二极管光照特性测量电路图 表2 光电二极管光照特性测量 光照度（Lx） 0 100 200 300 400 500 600 光生电流（μA） （8）根据上面两表中实验数据，在同一坐标轴中作出两条曲线，并进行比较。 （9）实验完毕，将光照度调至最小，直流电压调至最小，关闭电源，拆除所有连线。 光电